三宅 庸資

J-GLOBALへ         更新日: 17/08/04 10:25
 
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研究者氏名
三宅 庸資
 
ミヤケ ヨウスケ
所属
九州工業大学
部署
大学院情報工学研究院 情報創成工学研究系
職名
研究員
学位
博士(情報工学)(九州工業大学)

研究分野

 
 

経歴

 
2016年4月
 - 
現在
九州工業大学 大学院情報工学研究院 研究員
 

学歴

 
2012年4月
 - 
2016年3月
九州工業大学 大学院情報工学府 情報システム専攻 博士後期課程
 
2010年4月
 - 
2012年3月
九州工業大学 大学院情報工学府 情報システム専攻 博士前期課程
 

受賞

 
2012年3月
電子情報通信学会九州支部 学術奨励賞
 

論文

 
On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor
Yousuke Miyake, Yasuo Sato, and Seiji Kajihara
Proc. IEEE International Test Conference in Asia (accepted)      2017年9月   [査読有り]
Miyake Y, Sato Y, Kajihara S, Miura Y.
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems   24(11) 3282-3295   2016年   [査読有り]
Measurement of On-Chip Temperature and Voltage Variation Using Digital Sensors
Yousuke Miyake, Yasuo Sato, and Seiji Kajihara
Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing   66-71   2016年11月   [査読有り]
Kajihara S, Miyake Y, Sato Y, Miura Y.
Proceedings of the Asian Test Symposium   254-257   2014年   [査読有り]
Miyake Y, Sato Y, Kajihara S, Miura Y.
Proceedings of the Asian Test Symposium   156-161   2014年   [査読有り]
Sato Y, Monden M, Miyake Y, Kajihara S.
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC   59-67   2014年   [査読有り]
A Flexible Temperature and Voltage Monitor for Field Test
Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara and Yukiya Miura
Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing      2013年11月   [査読有り]
Miura Y, Sato Y, Miyake Y, Kajihara S.
Proceedings - 2012 17th IEEE European Test Symposium, ETS 2012      2012年   [査読有り]

Misc

 
三宅 庸資, 加藤 隆明, 糸永 卓矢
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   115(382) 5-10   2015年12月
喜納 猛, 三宅 庸資, 佐藤 康夫
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   115(339) 165-170   2015年12月
佐藤 康夫, 三宅 庸資, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   114(384) 1-6   2014年12月
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが,NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問題となっている.本論文では,FPGAで構成されたリングオシレータにおいて,非動作時のルックアップテーブルの入力値を適切に制御することにより,その劣化量を低減あるいは制御可能であることを示す.また様々な構成のリングオシレータの測定周波数を比較することにより,それらの劣化量の関係についても論じる.
三宅 庸資, 佐藤 康夫, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   114(384) 7-12   2014年12月
VLSI動作時の信頼性確保に,チップへの温度モニタの搭載が有効であり,リングオシレータを用いてその周波数から温度測定するモニタが提案されている.リングオシレータによる温度モニタをFPGAで実現する場合,配線遅延ばらつきが大きいため,温度の推定精度が悪化する問題がある.本論文では,FPGAの特徴を利用した温度モニタ用リングオシレータの構成について検討し,リングオシレータ内の配線遅延のばらつきを抑え,発振に影響するトランジスタ構成を制御可能な設計手法を提案する.そして,提案手法が温度モニタの温...
安部 賢太朗, 三宅 庸資, 梶原 誠司, 佐藤 康夫
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   114(329) 245-250   2014年11月
本論文では,FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる.半導体技術の進歩により,微細化,高速化が進む反面,出荷後の劣化現象に起因する遅延値の増加による故障が問題となっている.FPGAはASIC等のLSIと比べて,論理を構成する際により多くのトランジスタが使用される.そのため,FPGAを長期間使用し続けると,トランジスタの経年劣化により回路が誤動作する可能性は通常のLSI以上であると考えられる.そこで,劣化による故障に対応するため,FPGA搭載論理の回路遅延を自...
佐藤 康夫, 松浦 宗寛, 荒川 等, 三宅 庸資, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   113(353) 7-12   2013年12月
FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する.FPGAのアプリケーション依存テストは,シリコンデバッグやオンラインテストでの品質向上を狙いとして実施されるが,テスト容易化のための再コンフィグレーションを行うため,本来の回路パス遅延をテストすることは困難である.そこで筆者らは,可変なテストタイミングを用いて搭載論理がどこまで速く動作可能か測定するテスト手法を検討している.本論文ではそのテスト手法で用いるPLLの位相シフト機能を用いた高精度な可変テストタイ...
三宅 庸資, 門田 正文, 佐藤 康夫, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   113(321) 165-170   2013年11月
FPGAは高信頼性システムを含めたさまざまな組込みシステムに利用されており,信頼性の確保が重要になっている.VLSIの信頼性確保の一手段として温度モニタを利用し,その実現方法としてリングオシレータを用いる手法が提案されている.その手法をFPGAで実現する場合,同じ論理であっても論理合成や配置配線の結果によって使用される回路や配線量が異なるため,配線遅延の制御が困難であり,温度モニタの推定精度がばらつく問題がある.FPGA上にリングオシレータを用いて温度推定を行うためには,リングオシレータ内...
加藤 隆明, 喜納 猛, 三宅 庸資, 佐藤 康夫, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報   113(321) 233-238   2013年11月
スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている.しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異なるので,テスト時電力を低減するだけでなく,それを制御する技術開発が必要である.筆者らの先行研究では,スキャンイン時のFFのトグル率を制御可能な電力低減回路を提案した.本研究では電力制御回路を用いた具体的な制御手法を提案するとともに,TEGチップに電力制御回路を実装し,実際の電力低減効果の測定評価を行う.
三宅 庸資, 津森 渉, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 三浦 幸也
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報   112(429) 55-60   2013年2月
VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている 劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが,その際には,温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある チップ内の温度と電圧は,リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため,高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある....
津森 渉, 三宅 庸資, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 三浦 行也
電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report   112(321) 243-248   2012年11月
システムの信頼性の確保のために,フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を,障害の発生する前に検知する必要がある.LSIの劣化は,フィールドでの回路の遅延値を繰り返し測定することで,検知が可能と考えられる.しかし測定される遅延値は,温度や電圧等のシステムの動作環境によって大きく変動するため,これらの環境要因による量を把握し,測定遅延値から劣化遅延成分のみを取り出す必要がある.この温度と電圧は,チップ内に配置した複数種類のリングオシレータの周波数から推定する方法が提案されている.本研究...
三宅 庸資, 笹川 琢磨, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 三浦 幸也
電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report   112(102) 45-50   2012年6月
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている.フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには,温度や電圧等の遅延への影響を考慮する必要がある.そこで,リングオシレータを核とする温度・電圧モニタ用回路の試作を行い,チップ内部の温度と電圧の測定を行った.本論文では,試作した温度・電圧モニタ用回路の評価結果を利用し,フィールドテストへの活用を行う際の課題と対応策の検討について述べる.
三宅 庸資, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 宮瀬 紘平, 三浦 幸也
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報   111(435) 61-66   2012年2月
VLSIの組み込まれたシステムには高いディペンダビリティが要求されるものもある.VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある.本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測...

競争的資金等の研究課題

 
小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発
日本学術振興会: 科学研究費助成事業(若手研究(B))
研究期間: 2017年4月 - 2019年3月    代表者: 三宅 庸資