三宅庸資 (Yousuke Miyake) - マイポータル

基本情報

所属: 九州工業大学大学院情報工学研究院情報・通信工学研究系研究職員

学位: 博士(情報工学)(九州工業大学)

研究者番号: 60793403
ORCID ID: https://orcid.org/0000-0002-6742-5105
J-GLOBAL ID: 201701019776575759
Researcher ID: ABE-5057-2021
researchmap会員ID: B000275915

研究キーワード

研究分野

経歴

2021年10月 - 現在

株式会社プリバテック
2016年4月 - 2021年9月

九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 研究員

学歴

2012年4月 - 2016年3月

九州工業大学, 大学院情報工学府, 情報システム専攻博士後期課程
2010年4月 - 2012年3月

九州工業大学, 大学院情報工学府, 情報システム専攻博士前期課程

委員歴

2018年8月 - 2019年9月

IEEE International Test Conference in Asia 2019 実行委員会, Publication Chair

受賞

2012年3月

学術奨励賞, 電子情報通信学会九州支部

三宅庸資

論文

A 1-ps Bin Size 4.87-ps Resolution FPGA Time-to-Digital Converter Based on Phase Wrapping Sorting and Selection

Poki Chen, Joshua Adiel Wijaya, Seiji Kajihara, Trio Adiono, Hsiang-Yu Chen, Ruei-Ting Wang, Yousuke Miyake

IEEE Access 10 126429-126439 2022年12月査読有り
On Correction of A Delay Value Using Ring-Oscillators for Aging Detection and Prediction

Takaaki Kato, Yousuke Miyake, Seiji Kajihara

Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS) 60-65 2022年11月査読有り
On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test and Its Application to Digital Sensor

Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS) 1-6 2020年11月査読有り
Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations

Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 112-117 2020年9月査読有り筆頭著者
On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test

Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yukiya Miura

Proc. IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) 1-6 2020年7月査読有り筆頭著者
Innovative Test Practices in Asia

Takeshi Iwasaki, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura, Smith Lai, Gavin Hung …

2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) 1-1 2020年4月
High-Precision PLL Delay Matrix With Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converters

Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ruei-Ting Wang, Nguyen My Qui, John Carl Joel, S. Marquez, Seiji Kajihara, Yousuke Miyake

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 28(4) 904-913 2020年4月査読有り
On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) 130-137 2019年12月査読有り筆頭著者
On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs

Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen

Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 157-162 2019年9月査読有り筆頭著者
A Selection Method of Ring Oscillators for An On-chip Digital Temperature and Voltage Sensor

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 13-18 2019年9月査読有り筆頭著者
On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara

Digest of IEEE International Workshop on Automotive Reliability & Test P01 1-6 2018年11月査読有り筆頭著者
On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 125-130 2017年9月査読有り筆頭著者
Measurement of On-Chip Temperature and Voltage Variation Using Digital Sensors

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara

Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 66-71 2016年11月査読有り筆頭著者
Temperature and Voltage Measurement for Field Test Using an Aging-Tolerant Monitor

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 24(11) 3282-3295 2016年11月査読有り筆頭著者
Temperature and Voltage Estimation Using Ring-Oscillator-Based Monitor for Field Test

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura

Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS) 156-161 2014年11月査読有り筆頭著者
Reduction of NBTI-Induced Degradation on Ring Oscillators in FPGA

Yasuo Sato, Masafumi Monden, Yousuke Miyake, Seiji Kajihara

Proc. IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) 59-67 2014年11月査読有り
An On-Chip Digital Environment Monitor for Field Test

Seiji Kajihara, Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Yukiya Miura

Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS) 254-257 2014年11月査読有り
A Flexible Temperature and Voltage Monitor for Field Test

Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura

Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2013年11月査読有り筆頭著者
On-chip Temperature and Voltage Measurement for Field Testing

Yukiya Miura, Yasuo Sato, Yousuke Miyake, Seiji Kajihara

Proc. IEEE European Test Symposium 1-1 2012年査読有り

MISC

オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について

加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 121(388) 18-23 2022年3月
回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について

権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司

電子情報通信学会2021年総合大会論文集 D-10-3 80 2021年3月
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について

森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 120(288) 1-6 2020年12月
フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用

三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会2020年総合大会論文集 D-10-5 105 2020年3月17日
機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について

権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 119(420) 1-6 2020年2月
長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測

三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也

電子情報通信学会技術研究報告 119(351) 37-42 2019年12月
FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 118(364) 1-6 2018年12月
FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ

三宅庸資, 梶原誠司

第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018), C-010 179-180 2018年9月
デジタル温度電圧センサの精度向上のための推定式の拡充について

波多江雅貴, 三宅庸資, 加藤隆明, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会2018年総合大会講演論文集, D-10-5 124 2018年3月
デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法

井上賢二, 三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 117(444) 49-54 2018年2月20日
FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 117(359) 37-42 2017年12月15日
デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 117(154) 19-24 2017年7月26日
デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について (ディペンダブルコンピューティング)

三宅庸資, 加藤隆明, 糸永卓矢

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(382) 5-10 2015年12月18日
FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 (ディペンダブルコンピューティング)

喜納猛, 三宅庸資, 佐藤康夫

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(339) 165-170 2015年12月1日
リングオシレータを用いたFPGA上の完全デジタル温度モニタ

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

DAシンポジウム2015論文集 2015 205-210 2015年8月
FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 (ディペンダブルコンピューティング)

佐藤康夫, 三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(384) 1-6 2014年12月19日
FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ (ディペンダブルコンピューティング)

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(384) 7-12 2014年12月19日
FPGAにおけるオンチップ遅延測定について (ディペンダブルコンピューティング) -- (デザインガイア2014 : VLSI設計の新しい大地)

安部賢太朗, 三宅庸資, 梶原誠司, 佐藤康夫

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(329) 245-250 2014年11月26日
FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 (ディペンダブルコンピューティング)

佐藤康夫, 松浦宗寛, 荒川等, 三宅庸資, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(353) 7-12 2013年12月13日
FPGAにおける複数の周波数特性を実現するためのリングオシレータ構成法の検討 (ディペンダブルコンピューティングデザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地)

三宅庸資, 門田正文, 佐藤康夫, 梶原誠司

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(321) 165-170 2013年11月27日

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講演・口頭発表等

On-Chip Delay Measurement for In-Field Test

Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Yukiya Miura

IEEE VLSI Test Symposium (VTS), IP session, "Innovative Test Practices in Asia" 2020年4月
オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について

加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司

第82回FTC研究会 2020年1月24日
On Machine Learning Based Calibration for An On-chip Digital Thermal/voltage Sensor

Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Seiji Kajihara

International Symposium on Applied Engineering and Sciences (SAES2019) 2019年11月11日
AIチップの高信頼を実現するオンチップ遅延劣化検出技術

麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 梶原誠司, 三宅庸資, 加藤隆明, 三浦幸也

LSIとシステムのワークショップ2019 2019年5月14日
FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討

古川大悟, 三宅庸資, 梶原誠司, Poki Chen

第80回FTC研究会 2019年1月24日
フィールドテストにおける劣化検出のためのオンチップ遅延測定

三宅庸資

九州工業大学重点プロジェクトセンター合同ワークショップ 2018年11月7日
デジタル温度電圧センサにおける2点補正手法の検討

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青

第76回FTC研究会 2017年1月19日
On-Chip Delay Measurement for FPGAs

Yousuke Miyake

Kyutech and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design and Networking Technologies 2016年9月30日招待有り
On-chip Delay Measurement for FPGAs with a Temperature Sensor

三宅庸資

South European Test Seminar (SETS) 2016年3月10日
FPGAのフィールドテストにおけるオンチップ遅延劣化検出システムについて

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司

第74回FTC研究会 2016年1月23日
フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路における推定精度向上手法

三宅庸資, 津森渉, 佐藤康夫, 梶原誠司, 三浦幸也

第68回FTC研究会 2013年1月11日
温度・電圧モニタ用回路の製造バラツキの影響評価

笹川拓磨, 三宅庸資, 宮瀬紘平, 佐藤康夫, 梶原誠司, 三浦幸也

第67回FTC研究会 2012年7月13日
フィールドテストのための温度・電圧モニタ用回路の構成における最適化検討

津森渉, 三宅庸資, 宮瀬紘平, 佐藤康夫, 梶原誠司, 三浦幸也

第67回FTC研究会 2012年7月12日
フィールドテストの環境モニタ用回路の試作評価

三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 三浦幸也

第66回FTC研究会 2012年1月20日
熱モニタ用リングオシレータの評価機構とTEG設計

井上亨, 三宅庸資, 松薗誠, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 佐藤康夫, 三浦幸也

第64回FTC研究会 2011年1月20日

所属学協会

2016年4月 - 現在

IEEE
2012年2月 - 現在

電子情報通信学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

耐故障設計

ローム株式会社共同研究 2020年4月 - 2022年3月

三宅庸資
VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究若手研究 2019年4月 - 2022年3月

三宅庸資
フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2018年7月 - 2022年3月

梶原誠司, 大竹哲史, 三宅庸資
小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 若手研究(B) 2017年4月 - 2019年3月

三宅庸資

三宅庸資

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研究分野

経歴

学歴

委員歴

受賞

論文

MISC

講演・口頭発表等

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

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