藤澤悟 (Satoru Fujisawa) - マイポータル

基本情報

所属: 独立行政法人産業技術総合研究所製造技術研究部門　表面機能デザイン研究グループ主任研究員

J-GLOBAL ID: 200901040007396554
researchmap会員ID: 5000005919

外部リンク: http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=S44975913

研究キーワード

検査・診断・計測マイクロトライボロジー走査型プローブ顕微鏡(SPM) 原子間力顕微鏡(AFM) 摩擦力顕微鏡(FFM) 凝着アコースティックエミッション(AE) 高速動画・信号同期記録

研究分野

受賞

2005年3月

2004年度日本機械学会船井賞, 高信頼性の半導体デバイス開発のための超高分解能複合顕微鏡による金属ナノワイヤーの評価手法の研究, 日本機械学会

藤澤悟
2002年7月

2001 International Metallographic Contest, Gold Wires of Single Atom Width, International Metallographic Society, The Materials Information Society

藤澤悟、共同研究者
2002年

第24回応用物理学会論文賞（JJAP論文賞）, "Simultaneous Observation of Millisecond Dynamics in Atomistic Structure, Force and Conductance on the Basis of Transmission Electron Microscopy" (Japanease journal of applied physics, Vol.40, (2001) L170～ L173.), 応用物理学会

藤澤悟、共同研究者
2001年3月

金属組織写真奨励賞, 絶縁体金属単原子ワイヤーの生成過程, 日本金属学会

藤澤悟、共同研究者
1998年5月

平成10年度日本トライボロジー学会奨励賞, ２次元量子化摩擦のシミュレイションと実験結果の比較, 日本トライボロジー学会

藤澤悟

論文

A Novel Detection Method for Acoustic Emission Using a Scanning Probe Microscope

Fujisawa, Satoru, Mano, Hiroki, Miyake, Koji

Tribology Online 11(6) 646-652 2016年査読有り
原子間力顕微鏡を利用したナノメートル領域での硬さ試験(S51-4 トライボロジーの基礎と応用(IV),S51 トライボロジーの基礎と応用)

三宅晃司, 藤澤悟, 是永敦, 石田敬雄, 佐々木信也

年次大会講演論文集 2004 117-118 2004年査読有り
摩擦力顕微鏡で調べる摩擦の素過程

藤澤悟

まてりあ : 日本金属学会会報 40(10) 844-846 2001年10月20日
Metal-insulator transition in stable one-dimensional arrangements of single gold atoms

T Kizuka, S Umehara, S Fujisawa

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS 40(1AB) L71-L74 2001年1月査読有り
Analysis of experimental load dependence of two-dimensional atomic-scale friction

S Fujisawa, K Yokoyama, Y Sugawara, S Morita

PHYSICAL REVIEW B 58(8) 4909-4916 1998年8月査読有り
Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy

Naruo Sasaki, Masaru Tsukada, Satoru Fujisawa, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

TRIBOLOGY LETTERS 4(2) 125-128 1998年3月
Load dependence of the frictional-force microscopy image pattern of the graphite surface

Naruo Sasaki, Masaru Tsukada, Satoru Fujisawa, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita, Katsuyoshi Kobayashi

Physical Review B 57(7) 3785-3786 1998年2月15日
Two-dimensionally quantized friction observed with two-dimensional frictional force microscope

Satoru Fujisawa, Eigo Kishi, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

TRIBOLOGY LETTERS 1(2-3) 121-127 1995年11月
FLUCTUATION IN 2-DIMENSIONAL STICK-SLIP PHENOMENON OBSERVED WITH 2-DIMENSIONAL FRICTIONAL FORCE MICROSCOPE

S FUJISAWA, E KISHI, Y SUGAWARA, S MORITA

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 33(6B) 3752-3755 1994年6月査読有り

MISC

S114043 走査型プローブ顕微鏡におけるアコースティックエミッションの検出方法の提案([S114-04]トライボロジーの基礎と応用(4))

藤澤悟

年次大会 : Mechanical Engineering Congress, Japan 2013 "S114043-1"-"S114043-3" 2013年9月8日
S115025 光テコ方式AFM/FFMのS/N比に関する考察

藤澤悟

年次大会 : Mechanical Engineering Congress, Japan 2012 "S115025-1"-"S115025-3" 2012年9月9日
The effect of pile-up and contact area on hardness test by nanoindentation

K Miyake, S Fujisawa, A Korenaga, T Ishida, S Sasaki

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 43(7B) 4602-4605 2004年7月
Direct observation of electromigration and induced stress in Cu nanowire

S Fujisawa, T Kikkawa, T Kizuka

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS 42(12A) L1433-L1435 2003年12月
Compensation of cross talk in the optical lever deflection method used in atomic force microscopy

S Fujisawa, H Ogiso

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 74(12) 5115-5117 2003年12月
Effect of lateral displacement of atomic force microscope tip caused by contact scanning studied by in situ transmission electron microscopy

S Fujisawa, T Kizuka

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS 42(10A) L1182-L1184 2003年10月
Lateral displacement of an AFM tip observed by in-situ TEM/AFM combined microscopy: The effect of the friction in AFM

S Fujisawa, T Kizuka

TRIBOLOGY LETTERS 15(2) 163-168 2003年8月
Self-assembled monolayer on diamond-like carbon surface: formation and friction measurements

J Choi, T Ishida, T Kato, S Fujisawa

TRIBOLOGY INTERNATIONAL 36(4-6) 285-290 2003年4月
Micro-scale frictioin control with additional electric potential

(PROCEEDINGS OF INTERNATIONAL TRIBOLOGY CONFERENCE NAGASAKI, 2000) 1(1) 775-778 2002年
原子スケールでの摩擦

藤澤悟

トライボロジスト 46(5) 400-402 2001年5月15日
28pYQ-7 高分解能透過電子顕微鏡法に基づいた固体ポイントコンタクトの原子配列、応力、および電気伝導ミリ秒ダイナミックスの同時観察

木塚徳志, 鷲見高雄, 熊澤克芳, 出口俊二, 成瀬幹夫, 藤澤悟, 佐々木信也, 矢部彰, 榎本祐嗣

日本物理学会講演概要集 56 811-811 2001年
Frictional-force imaging and friction mechanisms with a lattice periodicity

S Morita, Y Sugawara, K Yokoyama, S Fujisawa

FUNDAMENTALS OF TRIBOLOGY AND BRIDGING THE GAP BETWEEN THE MACRO-AND MICRO/NANOSCALES 10(1) 83-101 2001年
4 原子スケール摩擦の荷重依存性(<特集>固体間凝着現象)

藤澤悟

溶接学会誌 69(2) 159-161 2000年3月5日

藤澤悟

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