産業財産権

特許権

1台の放射線検出器で同時計数測定を行うことにより高感度で核種を分析する方法

日本原子力研究所
  • 大島 真澄
    • ,
  • 藤 暢輔
    • ,
  • 小泉 光生
    • ,
  • 木村 敦
    • ,
  • 後藤 淳
出願番号
特願2003-345212
出願日
2003年10月3日
公開番号
特開2005-114387
公開日
2005年4月28日
リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903020669633471
ID情報
  • J-Global ID : 200903020669633471
産業財産権リストへ