2003年7月
Inside Quality Evaluation of Fruit by X-ray Image
the 2003 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics (AIM2003)
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- 記述言語
- 英語
- 会議種別
小川 雄一
オガワ ユウイチ (Yuichi Ogawa)
更新日: 13:02