2016年4月 - 2020年3月
自己診断する性能保証型制御系:冗長性に基づく設計と検証
日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 基盤研究(C)
本研究では出力のサンプリング周期が入力の更新周期よりも長い二重レートサンプル値制御系のための設計方法について検討している。このような二重レート系ではサンプリングされた出力がサンプル点上で参照値に追従したとしても、サンプル点間で振動してしまう可能性がある。そこで、本研究ではサンプル点上の応答を劣化させることなくまたそれとは独立にサンプル点間の振動を抑制するために、既存の制御則を零空間に基づいて拡張した。
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- 課題番号 : 16K06425
- 体系的課題番号 : JP16K06425