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鈴木 拓
スズキ タク (Taku Suzuki)
更新日: 04/17
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MISC
共同研究・競争的資金等の研究課題
産業財産権
産業財産権
16
表示件数
20件
20件
50件
100件
特許第6164733号 表面観測用試料冷却装置及び表面観測装置
鈴木 拓, 菱田 俊一
特開2016-011840 軽元素分析装置及び軽元素分析方法
鈴木 拓, 小林 峰
特許第5804256号 電子スピン偏極イオンビーム発生方法及びその発生装置
鈴木 拓, 山内 泰, 菱田 俊一
特開2015-025592 表面観測用試料冷却装置及び表面観測装置
鈴木 拓, 菱田 俊一
特許第5322157号 スピン偏極イオンビーム発生装置及びそのスピン偏極イオンビームを用いた散乱分光装置及び方法並びに試料加工装置
鈴木 拓, 山内 泰
特許第5212962号 偏極イオンビーム発生方法とその実施に使用する偏極イオンビーム発生装置
鈴木 拓, 山内 泰
特許第5196362号 磁気構造解析方法とそれに使用するスピン偏極イオン散乱分光装置
鈴木 拓, 山内 泰
特開2013-029435 電子スピン偏極イオンビーム発生方法及びその発生装置
鈴木 拓, 山内 泰, 菱田 俊一
特許第5051634号 イオンビーム発生方法とそれを実施する為のイオンビーム発生装置
鈴木 拓, 山内 泰
特開2011-029077 偏極イオンビーム発生装置と偏極イオンビーム発生方法
鈴木 拓
特開2009-216387 磁気構造解析方法とそれに使用するスピン偏極イオン散乱分光装置
鈴木 拓, 山内 泰
特許第4374445号 磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置
倉橋 光紀, 山内 泰, 鈴木 拓
WO2008-069110 スピン偏極イオンビーム発生装置及びそのスピン偏極イオンビームを用いた散乱分光装置並びに試料加工装置
鈴木 拓, 山内 泰
特開2008-135309 イオンビーム発生方法とそれを実施する為のイオンビーム発生装置
鈴木 拓, 山内 泰
特開2008-135308 偏極イオンビーム発生方法とその実施に使用する偏極イオンビーム発生装置
鈴木 拓, 山内 泰
特開2005-300402 磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置
倉橋 光紀, 山内 泰, 鈴木 拓
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