特許権 スピン偏極イオンビーム発生装置及びそのスピン偏極イオンビームを用いた散乱分光装置及び方法並びに試料加工装置 独立行政法人物質・材料研究機構 鈴木 拓, 山内 泰 出願番号 特願2008-548251 出願日 2007年11月29日 特許番号/登録番号 特許第5322157号 登録日 発行日 2013年7月26日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201303054861778160URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201303054861778160 ID情報 J-Global ID : 201303054861778160
