特許権 磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置 独立行政法人物質・材料研究機構 倉橋 光紀, 山内 泰, 鈴木 拓 出願番号 特願2004-118872 出願日 2004年4月14日 公開番号 特開2005-300402 公開日 2005年10月27日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903079177527590URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/200903079177527590 ID情報 J-Global ID : 200903079177527590