辻 勝弘
ツジ カツヒロ (Tsuji Katsuhiro)
更新日: 2024/02/14
基本情報
- 所属
- 広島市立大学 大学院情報科学研究科 システム工学専攻 助教
- 学位
-
修士（工学）(福井大学)博士 (情報工学)(広島市立大学)
- J-GLOBAL ID
- 201201094886336525
- researchmap会員ID
- 7000001074
研究キーワード
5経歴
2-
2007年4月
-
1996年4月 - 2007年3月
学歴
2-
1994年4月 - 1996年3月
-
1990年4月 - 1994年3月
論文
29-
Japanese J. Appl. Phys. 57(1) 016601-1-016601-7 2018年1月1日 査読有り
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IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E99C(4) 466-473 2016年4月 査読有り
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IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS E97C(11) 1117-1123 2014年11月 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics Vol. 53(6) 064303 2014年5月 査読有り
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2014 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 87-91 2014年 査読有り
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD 2013年11月 査読有り
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Jpn. J. Appl. Phys. 52(064301) 2013年6月 査読有り
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2013 INTERNATIONAL CONFERENCE ON IC DESIGN AND TECHNOLOGY (ICICDT) 65-68 2013年 査読有り
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2013 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 108-111 2013年 査読有り
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IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures 59-63 2013年 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 51(094301) 2012年8月 査読有り
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SOLID-STATE ELECTRONICS 69 62-66 2012年3月 査読有り
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Threshold Voltage Variation Extracted from MOSFET C-V Curves by Charge-Based Capacitance Measurement2012 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 82-86 2012年 査読有り
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2012 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 73-76 2012年 査読有り
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD P1 2011年11月 査読有り
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2011 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 2011年 査読有り
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2011 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 2011年 査読有り
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD P4 2010年11月 査読有り
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2010 INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES, 23RD IEEE ICMTS CONFERENCE PROCEEDINGS 76-79 2010年 査読有り
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SOLID-STATE ELECTRONICS 53(3) 314-319 2009年3月 査読有り
MISC
2-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(296) 87-91 2013年11月14日
-
電子情報通信学会総合大会講演論文集 1998(2) 125-125 1998年3月6日
講演・口頭発表等
23-
2021 年度(第 72 回)電気・情報関連学会中国支部連合大会 2021年10月23日
-
2020年度（第71回）電気・情報関連学会中国支部連合大会 2020年10月24日
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Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures 2014年3月
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD 2012年11月
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Threshold Voltage Variation Extracted from MOSFET C-V Curves by Charge-Based Capacitance MeasurementProc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures 2012年3月
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応用物理学関係連合講演会 2012年3月 応用物理学会
-
応用物理学関係連合講演会 2012年3月 応用物理学会
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Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures 2011年4月
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Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures 2011年4月
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応用物理学会学術講演会 2010年9月 応用物理学会
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電子情報通信学会総合大会 2010年3月 電子情報通信学会
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Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures 2009年3月
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電子情報通信学会総合大会 2009年3月
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Proc. Int. Conf. on Microelectronics Test Structure 2008年3月 IEEE Electron Device Society
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電子情報通信学会総合大会 2008年3月
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電子情報通信学会ソサイエティ大会 2006年9月
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電子情報通信学会ソサイエティ大会 2004年9月
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情報処理学会 DAシンポジウム2004 2004年7月 情報処理学会
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電気・情報関連学会中国支部連合大会 2000年10月
-
電子情報通信学会総合大会 1998年3月