論文

査読有り
1998年11月

Thin Film Magnetic Head Wafer Inspection Technique using Geometrical Feature-Based Image Comparison

Proceedings of IAPR Workshop on Machine Vision Applications (MVA'98)
  • Atsushi Shimoda
  • ,
  • Hisafumi Iwata
  • ,
  • Yukihiro Shibata
  • ,
  • Hidehiro Ikeda

開始ページ
531
終了ページ
534
記述言語
英語
掲載種別
研究論文(国際会議プロシーディングス)