2019年8月20日 Examination of Input Signal to Reduce ADC Histogram Test Time 5th Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems (TJCAS 2019 at Nikko) Yujie Zhao, Anna Kuwana, Yuanyang Du, Yuki Ozawa, Yuto Sasaki, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa 記述言語 英語 会議種別 ポスター発表