2019年5月8日 Examination of ADC Histogram Test Time Reduction Method 3rd International Conference on Technology and Social Science (ICTSS2019) Yujie Zhao, Yuanyang Du, Yuki Ozawa, Yuto Sasaki, Anna Kuwana, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa 記述言語 英語 会議種別 口頭発表(一般)