2015年1月
OS1415-465 10nm未満の応力特異場を有するき裂の伝ぱ基準
M&M材料力学カンファレンス
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- 巻
- 2015
- 号
- 開始ページ
- "OS1415
- 終了ページ
- 465-1"-"OS1415-465-3"
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 一般社団法人日本機械学会
In order to investigate the criterion of unstable crack propagation induced by singular stress field less than 10 nm, the fracture toughness is examined using micro-scale silicon (Si) single crystal specimens with a precrack. Critical value of stress intensity factor at fracture, K_<IC>, is evaluated to be 0.93〜1.09 MPa・m^<1/2> where the minimum size of singular stress field is 6.3 nm. This clearly means that the fracture mechanics concept based on the continuum mechanics keeps the validity even in the single digit nanometer scale.
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110010053621
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA12322087
- URL
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110010053621/
- ID情報
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- CiNii Articles ID : 110010053621
- CiNii Books ID : AA12322087