江利口 浩二
エリグチ コウジ (Koji Eriguchi)
更新日: 02/14
論文
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Plasma Sources Science and Technology 33(2) 025011-025011 2024年2月1日
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Japanese Journal of Applied Physics 62(SI) SI1010-SI1010 2023年5月2日
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Journal of Vacuum Science & Technology B 40(6) 062209-062209 2022年12月 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 61(10) 106002-106002 2022年9月 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 61(SI) SI1014-SI1014 2022年7月1日
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IEEE Journal of the Electron Devices Society 10 769-777 2022年5月 査読有り
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Quantitative evaluation of plasma-damaged SiN/Si structures using bias-dependent admittance analysisJournal of Applied Physics 131(13) 133302-133302 2022年4月7日
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Applied Physics Letters 120(3) 031904-031904 2022年1月17日
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Jpn. J. Appl. Phys. 60 040101 2021年3月 査読有り招待有り筆頭著者
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J. Vac. Sci. Technol. A 39 043002 2021年 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 59(SJ) SJJC02-SJJC02 2020年6月1日 査読有り最終著者
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JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B 38(1) 2019年12月 査読有り
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J. Appl. Phys. 125 083301 2019年 査読有り
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J. Vac. Sci. Technol. A 37(1) 011304-01-011304-10 2019年1月 査読有り
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J. Appl. Phys. 126 083304 2019年 査読有り
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J. Phys. D: Applied Physics 52 455102 2019年 査読有り
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Surface and Coatings Technol. 377 124854 2019年 査読有り
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J. Vac. Sci. Technol. A 37 051301 2019年 査読有り
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Plasma Process. Polym. 16(9) e1900058-1900058 2019年 査読有り
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AIP Advances 8(5) 055027 2018年5月1日 査読有り