特許権 診断支援装置および診断支援方法 キヤノン株式会社 川岸 将実, 関口 博之, 宇治 彰人 出願番号 特願2017-002840 出願日 2017年1月11日 公開番号 特開2017-099907 公開日 2017年6月8日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201703016543680178URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201703016543680178 ID情報 J-Global ID : 201703016543680178