特許権 診断支援装置、診断支援装置の制御方法、プログラム、及び診断支援システム キヤノン株式会社 川岸 将実, 関口 博之, 宇治 彰人 出願番号 特願2015-099514 出願日 2015年5月14日 公開番号 特開2016-214324 公開日 2016年12月22日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201703011238352541URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201703011238352541 ID情報 J-Global ID : 201703011238352541