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Mar, 2020

遅延故障に起因する回路寿命分布の確率的高速推定手法—Stochastic fast estimation of timing error induced circuit lifetime distribution—VLSI設計技術

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

富山葉月
増田豊
石原亨

Volume: 119
Number: 443
First page: 113
Last page: 118
Language: Japanese
Publishing type
Publisher: 電子情報通信学会

Link information

CiNii Books: http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA1123312X
CiNii Research: https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357496431872?lang=en
URL: http://id.ndl.go.jp/bib/030358712
URL: http://id.ndl.go.jp/bib/030363102

ID information

ISSN : 0913-5685
CiNii Articles ID : 40022209223
CiNii Articles ID : 40022209941
CiNii Books ID : AA1123312X
CiNii Research ID : 1520572357496431872

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