論文

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2021年2月

Critical Path Isolation and Bit-Width Scaling Are Highly Compatible for Voltage Over-Scalable Design

Proc. IEEE Design, Automation and Test in Europe Conference

Y. Masuda
J. Nagayama
T. Y. Cheng
T. Ishihara
Y. Momiyama
M. Hashimoto

開始ページ: 1260
終了ページ: 1265
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.23919/date51398.2021.9473946
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.23919/date51398.2021.9473946
DBLP: https://dblp.uni-trier.de/rec/conf/date/MasudaNCIMH21
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9473901/9473226/09473946.pdf?arnumber=9473946

ID情報

DOI : 10.23919/date51398.2021.9473946
ISBN : 9783981926354
DBLP ID : conf/date/MasudaNCIMH21

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