論文

査読有り
2020年7月

Variation-Tolerant Voltage Over-Scalable Design with Critical Path Isolation and Bit-Width Scaling

Proc. International Workshop on Logic and Synthesis
  • Y. Masuda
  • ,
  • J. Nagayama
  • ,
  • T. Y. Cheng
  • ,
  • T. Ishihara
  • ,
  • Y. Momiyama
  • ,
  • M. Hashimoto

開始ページ
136
終了ページ
142
記述言語
英語
掲載種別

エクスポート
BibTeX RIS