論文

査読有り責任著者

2016年3月

Variability- and correlation-aware logical effort for near-threshold circuit design

2016 17th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

Jun Shiomi
Tohru Ishihara
Hidetoshi Onodera

開始ページ: 18
終了ページ: 23
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/isqed.2016.7479150
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/isqed.2016.7479150
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7470728/7479140/07479150.pdf?arnumber=7479150

ID情報

DOI : 10.1109/isqed.2016.7479150

エクスポート: BibTeX RIS

論文リストへ