2016年11月17日
均一系触媒分野における放射光XAFS分析の進歩―鉄触媒クロスカップリング反応の機構研究―
石油学会 年会・秋季大会講演要旨集
- 巻
- 2016
- 号
- 0
- 開始ページ
- 201‐202
- 終了ページ
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- DOI
- 10.11523/sekiyu.2016f.0_146
- 出版者・発行元
- 公益社団法人 石油学会
放射光X線を用いるX線吸収分光(XAFS)の普及と量子科学計算をベースとしたXAFSシミュレーションに進歩によって、均一系分子触媒の溶液構造の精密構造解析を有機化学者が自らの手で手軽に行えるようになってきた。本講演では、常磁性のためNMR分析が困難な常磁性鉄錯体を用いる均一系触媒反応の機構研究において、溶液XAFSが極めて強力な手段となり、反応溶液中の触媒中間体の同定・構造決定に基づく精密な反応機構の決定が可能となることを紹介したい。
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.11523/sekiyu.2016f.0_146
- J-Global ID : 201702229124062204
- CiNii Articles ID : 130005295625
- identifiers.cinii_nr_id : 9000345323075
- CiNii Research ID : 1390001205586935424