山崎紘史 (Hiroshi YAMAZAKI) - マイポータル

基本情報

学位: 博士(工学)(2015年3月日本大学)

研究者番号: 30758876
J-GLOBAL ID: 201501079005874131
researchmap会員ID: 7000011495

研究キーワード

研究分野

情報通信 / 計算機システム /

経歴

2019年4月 - 2022年3月

日本大学生産工学部, 教養・基礎科学系, 助教
2015年4月 - 2019年3月

日本大学生産工学部, 教養・基礎科学系, 助手

学歴

2012年4月 - 2015年3月

日本大学, 生産工学研究科, 数理情報工学専攻
2010年4月 - 2012年3月

日本大学, 生産工学研究科, 数理情報工学専攻
2006年4月 - 2010年3月

日本大学, 生産工学部, 数理情報工学科

委員歴

2017年4月 - 2021年3月

一般社団法人情報処理学会, システムとLSIの設計技術研究運営委員会
2020年 - 2021年

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Organizing Committee
2019年 - 2020年

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Organizing Committee

受賞

2020年11月

Best Paper Award, A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT, The 20th IEEE Workshop on RLT and High Level Testing

Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, Masayuki Arai
2020年3月

山下記念研究賞, 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法, 一般社団法人情報処理学会

山崎紘史
2017年11月

第4回研究会若手優秀講演賞, 拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法, 電子情報通信学会

山崎紘史

MISC

拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計とセキュリティの評価

山崎紘史,細川利典,藤原秀雄

電子情報通信学会論文誌D J101-D(8) 1165-1175 2018年8月1日査読有り筆頭著者
Packing Fraction of a Two-dimensional Eden Model with Random-Sized Particles

Naoki Kobayashi, Hiroshi Yamazaki

Journal of the physical society of JAPAN J.Phys.Soc.Jpn.87(014005) 014005-1-014005-6 2018年査読有り
A Don’t Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT

Masayoshi Yoshimura, Yoshiyasu Takahashi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa

IEICE Transaction on Fundamentals of Electronics E100A(12) 2824-2833 2017年12月1日査読有り
2次元ランダムサイズイーデンモデルの充填率

小林奈央樹, 山崎紘史

日本大学生産工学部研究報告A 50(2) 1-7 2017年12月査読有り
A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method Based on X-bit Distribution

Hiroshi Yamazaki, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura

IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E96D(9) 1994-2002 2013年9月

講演・口頭発表等

コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法

飯塚恭平,細川利典,山崎紘史,吉村正義

組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 2021年3月26日
RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法

浅見竜輝, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義, 新井雅之

ディペンダブルコンピューティング研究会 2021年2月5日電子情報通信学会
A Test Sensitization State Compaction Method on Controller Augmentation

Yuki Ikegaya, Yuta Ishiyama, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki

26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2020年7月13日 IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法

山崎紘史,石山悠太,松田竜馬,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹

VLSI設計技術研究会 2020年3月6日
n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法

竹内勇希, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義

ディペンダブルコンピューティング研究会 2020年2月26日電子情報通信学会
遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法

竹内勇希, 細川利典, 山崎紘史, 吉村正義

第82回FTC研究会 2020年1月25日 FTC研究会
A Don’t Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial Max-SAT

Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, Masayuki Arai

The Workshop on RTL and High Level Testing 2019 2019年12月14日 The Workshop on RTL and High Level Testing 2019
A Compaction Method of Test Sensitization States on Controller Augmentation

Yuki Ikegaya, Yuta Ishiyama, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki

The Workshop on RTL and High Level Testing 2019 2019年12月14日 The Workshop on RTL and High Level Testing 2019
A design for testability method to improve transition fault coverage using controller augmentation at register transfer level

Yuki Takeuchi, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura

Workshop on RTL and High Level Testing 2018 2019年10月18日
A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers

Masayoshi Yoshimura, Yuki Takeuchi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa

Proceedings of IEEE the 22nd International Symposium Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 2019年10月2日
A Low Capture Power Oriented X-filling Method Using Partial MaxSAT Iteratively

Toshinori Hosokawa, Kenichiro Misawa, Yuki Hirama, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, Masayuki Arai

Proceedings of IEEE the 22nd International Symposium Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 2019年10月2日
Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法

三澤健一郎,平間勇貫,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之

DAシンポジウム2019 2019年8月30日
パーシャルMAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法

浅見竜輝, 細川利典, 山崎紘史, 新井雅之, 吉村正義

第81回FTC研究会 2019年7月19日 FTC研究会
A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths

Yuki Takeuchi, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura

Proceedings of the 25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2019年7月3日
A Design for Testability Method for k-Cycle Capture Test Generation

Yuta Ishiyama, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki

Proceedings of the 25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2019年7月1日
最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法

山崎紘史,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹

組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2019 2019年3月18日
キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法

三澤健一郎,細川利典,山崎紘史,吉村正義

ディペンダブルコンピューティング研究会 2019年2月27日
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法

吉村正義,竹内勇希,細川利典,山崎紘史

ディペンダブルコンピューティング研究会 2019年2月27日
コントローラのテスト活性化用状態圧縮法

池ヶ谷祐輝,石山悠太,細川利典,山崎紘史

ディペンダブルコンピューティング研究会 2019年2月27日
A controller augmentation method for k-cycle capture test generation using partial scan designs

Yuta Ishiyama, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki

Workshop on RTL and High Level Testing 2018 2018年10月18日

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共同研究・競争的資金等の研究課題

レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究

独立行政法人日本学術振興会若手研究 2019年4月 - 2023年3月
配置・配線情報を用いた抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成に関する研究

日本大学平成３０年度生産工学部若手研究者支援研究費 2018年6月 - 2019年3月
低消費電力を考慮した静的テスト圧縮法に関する研究

日本大学平成２９年度生産工学部若手研究者支援研究費 2017年6月 - 2018年3月