2018年8月
Mapping of n-GaN Schottky Contacts with Wavy Surface Morphology Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
Phys. Status Solidi B
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- 巻
- 255
- 号
- 開始ページ
- 1700480
- 終了ページ
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1002/pssb.201700480
- ID情報
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- DOI : 10.1002/pssb.201700480