産業財産権

特許権

基板検査装置、基板検査方法および基板検査プログラム

名古屋電機工業株式会社
  • 鈴木 大介
  • ,
  • 野口 健二
  • ,
  • 村越 貴行
  • ,
  • 寺本 篤司

出願番号
特願2011-235109
出願日
2011年10月26日
公開番号
特開2013-092460
公開日
2013年5月16日
特許番号/登録番号
特許第5851200号
登録日
発行日
2015年12月11日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201603008447078246
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201603008447078246
ID情報
  • J-Global ID : 201603008447078246