産業財産権

特許権

X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム

名古屋電機工業株式会社

寺本篤司
村越貴行

出願番号: 特願2005-110815
出願日: 2005年4月7日
公開番号: 特開2006-292465
公開日: 2006年10月26日
特許番号/登録番号: 特許第4580266号
登録日
発行日: 2010年9月3日

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103098536126507
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201103098536126507

ID情報

J-Global ID : 201103098536126507

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