2018年10月
Detection of single holes generated by impact ionization in silicon
Applied Physics Letters
- ,
- ,
- ,
- ,
- ,
- ,
- 巻
- 113
- 号
- 16
- 開始ページ
- 163103_1
- 終了ページ
- 6
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文(学術雑誌)
- DOI
- 10.1063/1.5046865
- リンク情報
- ID情報
-
- DOI : 10.1063/1.5046865
- ISSN : 0003-6951
- eISSN : 1077-3118
- Web of Science ID : WOS:000447774800028