論文

査読有り
2018年10月

Detection of single holes generated by impact ionization in silicon

Appl. Phys. Lett.
  • H.Firdaus
    • ,
  • T.Watanabe
    • ,
  • M.Hori
    • ,
  • D.Moraru
    • ,
  • Y.Takahashi
    • ,
  • A.Fujiwara
    • ,
  • Y.Ono
巻
113
号
16
開始ページ
163103
終了ページ
1
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1063/1.5046865
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1063/1.5046865
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000447774800028&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1063/1.5046865
  • ISSN : 0003-6951
  • eISSN : 1077-3118
  • Web of Science ID : WOS:000447774800028
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