中平健治 (Kenji Nakahira) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 玉川大学量子情報科学研究所教授

学位: 博士（工学）(名古屋大学大学院)
修士（工学）(名古屋大学大学院)
学士（工学）(名古屋大学)

研究者番号: 90804005
J-GLOBAL ID: 201701000167352554
researchmap会員ID: 7000019192

外部リンク: https://sites.google.com/view/nakahira/

I received the B.E. and M.E. degrees in information electronics and the Ph.D. degree in electrical engineering from Nagoya University, Nagoya, Japan, in 1999, 2001, and 2007, respectively. I had been a Researcher at Research and Development Group, Hitachi, Ltd., Japan from 2004 to 2017 and am currently a Professor at Quantum Information Science Research Center, Quantum ICT Research Institute, Tamagawa University. My research interests include quantum information theory and signal processing.

研究キーワード

1

量子情報理論

研究分野

1

情報通信 / 情報学基礎論 / 情報学基礎理論

経歴

8

2017年4月 - 現在

玉川大学, 量子情報科学研究所, 教授
2015年4月 - 2017年3月

株式会社日立製作所, 研究開発グループ, 主任研究員
2012年4月 - 2017年3月

玉川大学, 量子情報科学研究所, 特別研究員
2012年10月 - 2015年3月

株式会社日立製作所, 横浜研究所, 主任研究員
2014年3月 - 2015年2月

Stanford大学, 数学科, 客員研究員
2011年4月 - 2012年9月

株式会社日立製作所, 横浜研究所, 研究員
2005年10月 - 2011年3月

株式会社日立製作所, 生産技術研究所, 研究員
2004年4月 - 2005年9月

株式会社日立製作所, 生産技術研究所, 企画員

論文

42

位相雑音環境下における量子受信機の誤り率特性とそのロバスト設計の規準

王天澄, 小山真司, 中平健治, 臼田毅

電子情報通信学会論文誌 (B) J105-B(3) 39-51 2022年査読有り
Generalized quantum process discrimination problems

K. Nakahira, K. Kato

Phys. Rev. A 103(6) 062606 2021年査読有り
Generalized quantum process discrimination problems

K. Nakahira, K. Kato

Phys. Rev. A 103(6) 062606 2021年査読有り
Quantum process discrimination with restricted strategies

K. Nakahira

Phys. Rev. A 104(6) 062609 2021年査読有り
Generalized quantum process discrimination problems

K. Nakahira, K. Kato

Phys. Rev. A 103(6) 062606 2021年査読有り
Simple upper and lower bounds on the ultimate success probability for discriminating arbitrary finite-dimensional quantum processes

K. Nakahira, K. Kato

Phys. Rev. Lett. 126(20) 200502 2021年査読有り
Derivation of quantum theory with superselection rules

K. Nakahira

Phys. Rev. A 101(2) 022104 2020年査読有り
Local unambiguous discrimination of symmetric ternary states

K. Nakahira, K. Kato, T. S. Usuda

Phys. Rev. A 99(2) 022316 2019年査読有り
Generalized bipartite quantum state discrimination problems with sequential measurements

Kenji Nakahira, Kentaro Kato, Tsuyoshi Sasaki Usuda

Physical Review A 97(2) 022340 2018年2月27日査読有り
Optimal discrimination of optical coherent states cannot always be realized by interfering with coherent light, photon counting, and feedback

Kenji Nakahira, Kentaro Kato, Tsuyoshi Sasaki Usuda

Physical Review A 97(2) 022320 2018年2月14日査読有り
Upper and lower bounds on optimal success probability of quantum state discrimination with and without inconclusive results

Kenji Nakahira, Tsuyoshi Sasaki Usuda, Kentaro Kato

Physical Review A 97(1) 012103 2018年1月8日査読有り
Parseval wavelets on hierarchical graphs

K. Nakahira, A. Miyamoto

Applied and Computational Harmonic Analysis 44(2) 414-445 2018年査読有り
Realizing a 2-d positive operator-valued measure by local operations and classical communication

Kenji Nakahira, Tsuyoshi Sasaki Usuda

IEEE Transactions on Information Theory 64(1) 613-621 2018年1月1日査読有り
Finding Optimal Solutions for Generalized Quantum State Discrimination Problems

Kenji Nakahira, Tsuyoshi Sasaki Usuda, Kentaro Kato

IEEE TRANSACTIONS ON INFORMATION THEORY 63(12) 7845-7856 2017年12月査読有り
Multi-Link Waveletと適応サンプリングに基づく医用超音波画像のスペックルノイズ除去技術

宮本敦, 中平健治

画像電子学会 46(2) 308-314 2017年査読有り
Generalized quantum state discrimination problems

Kenji Nakahira, Kentaro Kato, Tsuyoshi Sasaki Usuda

PHYSICAL REVIEW A 91(5) 052304 2015年5月査読有り
Finding optimal measurements with inconclusive results using the problem of minimum error discrimination

Kenji Nakahira, Tsuyoshi Sasaki Usuda, Kentaro Kato

PHYSICAL REVIEW A 91(2) 022331 2015年2月査読有り
ルールベース型欠陥分類器の判定パラメータ自動調整技術

宮本敦, 中平健治

電気学会論文誌C 135(4) 453-461 2015年査読有り
Iterative methods for finding optimal quantum measurements under minimum-error and minimax criteria

Kenji Nakahira, Kentaro Kato, Tsuyoshi Sasaki Usuda

PHYSICAL REVIEW A 91(1) 012318 2015年1月査読有り
A fast iterative technique for restoring scanning electron microscope images

Kenji Nakahira, Atsushi Miyamoto, Toshifumi Honda

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT 768 89-95 2014年12月査読有り

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受賞

7

2019年3月

電気通信普及財団賞テレコムシステム技術賞奨励賞, Generalized quantum state discrimination problems

中平健治, 加藤研太郎, 臼田毅
2018年6月

画像電子学会優秀論文賞, Multi-Link Waveletと適応サンプリングに基づく医用超音波画像のスペックルノイズ除去技術, 画像電子学会

宮本敦, 中平健治
2016年11月

ナノテスティングシンポジウム Best Interested Paper Award, 大気圧下におけるバルク材料の走査電子顕微鏡観察技法

大南祐介, 久田明子, 中平健治, 中林誠, 庄子美南, 吉原真衣, 伊東祐博
2016年9月

精密工学会第36回技術賞, 高集積化電子部品の検査精度向上を実現する超音波観察像の鮮鋭化および微細欠陥検出技術の開発と実用化

酒井薫, 中平健治, 梅田雅道, 北見薫
2015年11月

発明協会平成27年度関東地方発明表彰発明奨励賞, 超音波診断装置の高画質化技術, 発明協会

中平健治, 宮本敦
2013年8月

日本医用画像工学会 2012年論文賞, 多重解像度解析およびモルフォロジカルフィルタを用いた医用超音波画像の高画質化技術, 日本医用画像工学会

中平健治, 宮本敦
2012年11月

日立返仁会第43回空盡賞, 多重解像度解析およびモルフォロジカルフィルタを用いた医用超音波画像の高画質化技術, 日立返仁会

中平健治

書籍等出版物

5

図式と操作的確率論による量子論

中平健治

森北出版 2022年10月20日
大気圧下でSEM観察を実現する新型卓上電子顕微鏡AeroSurf 1500; 日立評論

大南祐介, 中平健治, 久田明子, 中林誠, 庄子美南, 吉原真衣, 佐藤賢一, 伊東祐博 (担当:分担執筆)

2016年5月
画像処理による医用超音波画像の高画質化技術; 返仁会誌

中平健治 (担当:分担執筆)

返仁会 2013年5月
走査電子顕微鏡における画像復元技術; 画像ラボ

中平健治, 宮本敦, 本田敏文 (担当:分担執筆)

日本工業出版 2010年7月
走査電子顕微鏡における画像復元; O plus E

中平健治, 宮本敦, 本田敏文 (担当:分担執筆)

アドコム・メディア 2010年3月

所属学協会

3

共同研究・競争的資金等の研究課題

4

測定の操作的性質に基づく量子古典混合系の数理構造の解明とその応用

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2019年4月 - 2022年3月

中平健治
凸計画法による量子最適測定の導出

2017年8月 - 2019年3月
凸計画法による最適量子逐次測定の解明（科研費研究活動スタート支援 17H07115）

2017年8月 - 2019年3月
量子論に関する基礎理論およびその応用

産業財産権

28

特許第05936955号データの調和解析方法およびデータ解析装置

中平健治, 宮本敦
US-P9305343 観察装置および観察方法

中平健治, 宮本敦, 平井大博
特許第05907659号検査方法及びその装置
PCT P2016-62942 物体撮像装置

大津文隆, 中平健治, 新井利明, 原澤克嘉, 本田真, 広田修
特開2016-015252 電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法

小林光俊, 中平健治, 田中麻紀
特開2015-153528 走査荷電粒子顕微鏡画像の高画質化方法および走査荷電粒子顕微鏡装置

中平健治, 田中麻紀
特許第05745438号検査方法および検査装置
特開2015-087238 目視検査方法およびその装置

細谷直樹, 宮本敦, 中平健治, 渡邊貴史
特開2015-054040 磁気共鳴イメージング装置および撮像パラメータ決定方法ならびに撮像パラメータ決定プログラム

小林光俊, 中平健治, 田中麻紀, 稲原徹
特許第05649083号超音波画像の画像復元方法およびその装置並びに超音波診断装置

上瀧剛, 宮本敦, 中平健治
特許第05602530号目視検査装置及び目視検査用映像の作成方法

中平健治, 宮本敦
特許第05544344号欠陥観察方法及び欠陥観察装置

嶺川陽平, 中平健治, 原田実, 平井大博, 中垣亮
特許第05537488号光検査方法及びその装置

中平健治, 本田敏文, 中田俊彦
特許第05537488号荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法

中平健治, 宮本敦
特開2014-075365 荷電粒子線装置、試料画像取得方法、およびプログラム記録媒体

大南祐介, 中平健治, 田中麻紀, 河西晋佐
特許第05452392号欠陥観察方法及び欠陥観察装置

嶺川陽平, 中垣亮, 中平健治, 平井大博, 北橋勝弘
特許第05425601号複数の反射／二次電子検出器から得られた信号を一枚の下層パタンのコントラストが高い画像を合成する方法
特許第05393550号走査荷電粒子顕微鏡を用いた画像生成方法及び装置、並びに試料の観察方法及び観察装置

上瀧剛, 宮本敦, 中平健治, 広井高志
特許第05380230号荷電粒子顕微鏡装置及びこれを用いた試料の検査方法
特開2013-205015 光検査装置およびその方法

中平健治, 本田敏文

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学歴

1

1995年4月 - 1999年3月

名古屋大学, 工学部, 電気電子・情報工学科