小林 春夫
コバヤシ ハルオ (Haruo Kobayashi)
更新日: 01/31
論文
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IEICE Electronics Express 20(1) 20220470-20220470 2023年1月10日
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2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS) 2022年11月
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2022 IEEE International Conference on Consumer Electronics-Asia (ICCE-Asia) 2022年10月26日
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2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT) 2022年10月25日
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IEICE Electronics Express 19(18) 20220276-20220276 2022年9月25日
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Impact 2022(3) 9-11 2022年6月30日
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IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 22(2) 142-153 2022年6月
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2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS) 2022年4月25日
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Journal of Electronic Testing 38(1) 21-38 2022年2月
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IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 68(7) 2640-2644 2021年7月
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小林春夫、桑名杏奈、魏江林、築地伸和、趙 宇杰 141(1) 2021年1月 査読有り招待有り筆頭著者
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IEEE Access 8 218215-218233 2020年12月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者
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Advanced Engineering Forum 2020年11月 査読有り最終著者