論文

査読有り 筆頭著者
2022年9月

Zero-Aware Fine-Grained Power Gating for Standard-Cell Memories in Voltage-Scaled Circuits

IEEE 35th International System-on-Chip Conference (SOCC)
  • Jun Shiomi
  • ,
  • Shogo Terada
  • ,
  • Tohru Ishihara
  • ,
  • Hidetoshi Onodera

開始ページ
124
終了ページ
129
記述言語
英語
掲載種別
研究論文(国際会議プロシーディングス)

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