寺西 信一
テラニシ ノブカズ (Nobukazu TERANISHI)
更新日: 2023/08/01
論文
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Optics Express (20) 35516-35526 2022年9月 査読有り
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Optics Express 21313-21319 2021年6月 査読有り
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High-exposure-durability, high-quantum-efficiency (>90%) backside-illuminated soft-X-ray CMOS sensorApplied Physics Express (1) 016502-1 2019年12月 査読有り
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APPLIED PHYSICS EXPRESS 12(8) 082012-1 2019年7月 査読有り
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IEEE Journal of Solid-State Circuits vol.54(issue 4) 978-991 2019年5月 査読有り
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Optics Express vol.26(issue 16) 21044-21053 2018年8月 査読有り
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Sensors vol.18 2358 2018年7月 査読有り
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IEEE Symposium on VLSI Circuits, Digest of Technical Papers C248-C249 2017年8月10日 査読有り
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IEEE Transactions on Electron Devices vol.63(issue 1) 86-91 2016年1月 査読有り
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 63(1) 10-15 2016年1月 査読有り
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IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS 51(1) 141-154 2016年1月 査読有り
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Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference 58 198-U275 2015年 査読有り
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2014 IEEE International Electron Devices Meeting 2014年12月 査読有り
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 61(6) 2093-2097 2014年6月 査読有り
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2013 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application, VLSI-TSA 2013 156-159 2013年 査読有り
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2012 International Electron Devices Meeting 2012年12月 査読有り
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 59(8) 2199-2205 2012年8月 査読有り
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 48(9) 1922-1928 2001年9月 査読有り
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 48(2) 222-230 2001年2月 査読有り