大井川治宏 (Haruhiro OIGAWA) - マイポータル

基本情報

所属: 筑波大学数理物質系講師

学位: 工学博士(1990年7月筑波大学)

J-GLOBAL ID: 201801017761496113
researchmap会員ID: 7000028003

研究分野

受賞

1998年

日本表面科学会論文賞

大井川治宏

論文

Ultimate High Conductivity of Multilayer Graphene Examined by Multiprobe Scanning Tunneling Potentiometry on Artificially Grown High-Quality Graphite Thin Film

Mogi, Hiroyuki, Bamba, Takafumi, Murakami, Mutsuaki, Kawashima, Yuki, Yoshimura, Masamichi, Taninaka, Atsushi, Yoshida, Shoji, Takeuchi, Osamu, Oigawa, Haruhiro, Shigekawa, Hidemi

ACS Applied Electronic Materials 1(9) 1762-1771 2019年8月査読有り
Development of laser-combined scanning multiprobe spectroscopy and application to analysis of WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure

Mogi, Hiroyuki, Wang, Zi-Han, Bamba, Takafumi, Takaguchi, Yuhei, Endo, Takahiko, Yoshida, Shoji, Taninaka, Atsushi, Oigawa, Haruhiro, Miyata, Yasumitsu, Takeuchi, Osamu …

APPLIED PHYSICS EXPRESS 12(4) 045002 2019年4月査読有り
光励起多探針計測を用いた単層WSe₂/MoSe₂面内ヘテロ構造の光応答評価

茂木, 裕幸, 重川, 秀実, 汪, 子涵, 番場, 隆文, 髙口, 裕平, 遠藤, 尚彦, 吉田, 昭二, 谷中, 淳, 大井川, 治宏, 宮田, 耕充

日本表面真空学会学術講演会要旨集 2019 1Da01R 2019年
時間分解走査トンネル顕微鏡によるスピンダイナミクス計測

Shoji, Yoshida, Osamu, Takeuchi, Haruhiro, Oigawa, Hidemi, Shigekawa

固体物理 53(4) 165 2018年4月査読有り
Optical pump-probe STM

Shigekawa, Hidemi, Shoji, Yoshida, Osamu, Takeuchi, Haruhiro, Oigawa

J. Electron Microsc. (Kenbikyo) 52(1) 46-50 2017年2月査読有り
Principles and Application of Heterodyne Scanning Tunnelling Spectroscopy

Eiji Matsuyama, Takahiro Kondo, Haruhiro Oigawa, Donghui Guo, Shojiro Nemoto, Junji Nakamura

SCIENTIFIC REPORTS 4 2014年10月査読有り
Probing ultrafast spin dynamics with optical pump-probe scanning tunnelling microscopy.

Shoji Yoshida, Yuta Aizawa, Zi-han Wang, Ryuji Oshima, Yutaka Mera, Eiji Matsuyama, Haruhiro Oigawa, Osamu Takeuchi, Hidemi Shigekawa

Nature nanotechnology 9(8) 588-93 2014年8月査読有り
Bases for time-resolved probing of transient carrier dynamics by optical pump-probe scanning tunneling microscopy.

Munenori Yokota, Shoji Yoshida, Yutaka Mera, Osamu Takeuchi, Haruhiro Oigawa, Hidemi Shigekawa

Nanoscale 5(19) 9170-5 2013年10月7日査読有り
Optical pump-probe scanning tunneling microscopy for probing ultrafast dynamics on the nanoscale

S. Yoshida, Y. Terada, M. Yokota, O. Takeuchi, H. Oigawa, H. Shigekawa

European Physical Journal: Special Topics 222(5) 1161-1175 2013年7月査読有り
Single-Atomic-Level Probe of Transient Carrier Dynamics by Laser-Combined Scanning Tunneling Microscopy

Yoshida, Shoji, Yokota, Munenori, Takeuchi, Osamu, Oigawa, Haruhiro, Mera, Yutaka, Shigekawa, Hidemi

APPLIED PHYSICS EXPRESS 6(3) 2013年3月
Study on (NH₄)₂S-treated GaAs(001) Surface probed by Time-resolved Scanning Tunneling Microscopy

Oigawa,H, Yokota,M, Yoshida,S, Takeuchi,O, Shigekawa,H

20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 2012年12月
Effect of Antimony on Electron Trap Density in GaInNAsSb Solar Cell Grown by Atomic Hydrogen-Assisted Molecular Beam Epitaxy

N., Miyashita, H., Oigawa, Y., Okada

EU Photovoltaic Solar Energy Conference 1DV.5.29 2011年9月
Time-resolved Scanning Tunneling Microscopy on (NH4)2S-treated GaAs(001) Surface

Iwata,Y, Yoshida,S, Oigawa,H, Takeuchi,O, Shigekawa,H

The 3rd International Symposium on Interdisciplinary Materials Science 3 P-67 2011年3月
Atomic force microscopy on microcrystal of III-V compounds grown by current-assisted liquid phase epitaxy

Oigawa,H, Iwata,Y, Taninaka,A, Takeuchi,O, Shigekawa,H

The 17th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 17 92 2009年12月
Surface Passivation Effect in (NH₄)₂Sx-treated GaAs Probed by Laser-combined Scanning tunneling Microscopy

H.,Oigawa, Y.,Terada, A.,Okubo, R.,Sasaki, O.,Takeuchi, H.,Shigekawa

The 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 16 91 2008年11月
Nanoscale dynamics probed by laser-combined scanning tunneling microscopy

Hidemi Shigekawa, Shoji Yoshida, Osamu Takeuchi, Masahiro Aoyama, Yasuhiko Terada, Hiroyuki Kondo, Haruhiro Oigawa

THIN SOLID FILMS 516(9) 2348-2357 2008年3月査読有り
光ＳＴＭと半導体キャリアーダイナミックス－ＳＴＭで観る固体の物理－

重川秀実, 吉田昭二, 寺田康彦, 武内修, 大井川治宏

固体物理 42(11) 795-804 2007年11月査読有り
Probing nanoscale carrier dynamics in semiconductors using laser combined STM.

H.,Shigekawa, S.,Yoshida, Y.,Terada, O.,Takeuchi, H.,Oigawa

Solid State Physics (Kotaibutsuri) 42(501) 795-804 2007年1月査読有り
Tip-induced band bending and its effect on local barrier height measurement studied by light modulated scanning tunneling spectroscopy

S., Yoshida, J., Kikuchi, Y., Kanitani, O., Takeuchi, H., Oigawa, H, Shigekawa

e-journal, surf. sci. & technol. 4 192-196 2006年1月査読有り
How to realize ultimate spatial and temporal resolutions by laser combined scanning tunneling microscopy?

H., Shigekawa, O., Takeuchi, M., Aoyama, Y, Terada H. Kondo, H., Oigawa

Materials Research Society 2006年1月査読有り

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書籍等出版物

走査プローブ顕微鏡－正しい実験とデータ解析のために必要なこと－

大井川, 治宏 (担当:分担執筆, 範囲:薬品を扱うために／その他の技術)

実験物理科学シリーズ・共立出版 2009年3月 (ISBN: 9784320033818)
実戦ナノテクノロジー走査プローブ顕微鏡と局所分光

大井川, 治宏 (担当:分担執筆, 範囲:半導体量子構造の解析)

裳華房 2005年11月 (ISBN: 9784785369071)
ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡

大井川, 治宏 (担当:分担執筆, 範囲:化合物半導体表面)

表面分析技術選書・丸善 2002年1月 (ISBN: 462107069X)
硫黄処理による砒化ガリウムの表面物性の研究

大井川,治宏

1990年7月

講演・口頭発表等

Nanoscale dynamics probed by laser-combined scanning tunneling microscopy

Shigekawa, Hidemi, Yoshida, Shoji, Takeuchi, Osamu, Aoyama, Masahiro, Terada, Yasuhiko, Kondo, Hiroyuki, Oigawa, Haruhiro

7th International Conference on Nano-Molecular Electronics (ICNME2006)
Heterodyne Scanning Tunnelling Spectroscopy

Matsuyama, Eiji, Oigawa, Haruhiro, Nakamura, Junji, Kondo, Takahiro

31st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy Thin Film and Surface Physics Division of JSAP
光励起多探針技術の開発と低次元半導体評価への応用

茂木, 裕幸, 汪, 子涵, 高口裕平, 遠藤尚彦, 宮田耕充, 嵐田, 雄介, 吉田昭二, 谷中, 淳, 大井川治宏, 武内, 修, 重川秀実

第68回応用物理学会春季学術講演会 2021年3月16日招待有り
Photoresponse Measurements of Monolayer WSe2MoSe2 In-plane Heterostructure by an Optically-excited Multiprobe method

Mogi, H, Wang, Z, Bamba, T, Takaguchi, Y, Endo, T, Yoshida, S, Taninaka, A, Oigawa, H, Miyata, Y, Takeuchi, O, Shigekawa, Hidemi

27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27) 2019年12月5日
光励起多探針計測を用いた単層 WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価

茂木裕幸, 汪子涵, 番場隆文, 髙口裕平, 遠藤尚彦, 吉田昭二, 谷中淳, 大井川治宏, 宮田耕充, 重川, 秀実

2019年日本表面真空学会学術講演会 2019年10月28日
Photoresponse of WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure probed by a laser-combined multiprobe spectroscopy

Mogi, Hiroyuki, Wang, Zi-Han, Bamba, Takafumi, Takaguchi, Yuhei, Endo, Takahiko, Yoshida, Shoji, Taninaka, Atsushi, Oigawa, Haruhiro, Miyata, Yasumitsu, Takeuchi, Osamu, Shigekawa, Hidemi

Recent Progress in Graphene & 2D Materials Research (RPGR2019) 2019年10月6日
パルス対励起型STMによる硫黄処理GaAs(001)表面のキャリアダイナミックスと基板依存性

大井川治宏, 寺田康彦, 大久保淳史, 岩田康史, 藤田高士, 佐々木亮, 武内修, 重川秀実

第71回応用物理学会学術講演会講演予稿集_応用物理学会_'10秋_1_ 2010年9月
GaAs/GaInNAsSb系ヘテロ接合化合物太陽電池の作製と評価

市川周平, 宮下直也, 上殿明良, 大井川治宏, 岡田至崇

第69回応用物理学会学術講演会講演予稿集_応用物理学会_'08秋_3_ 2008年9月

所属学協会

- 現在

応用物理学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

窒化物半導体表面

国内共同研究 1998年 - 1998年
デルタ・ドーピングによるGaAs表面構造の変化

科学研究費補助金 1997年
硫化物処理化合物半導体表面

国内共同研究 1989年 - 1993年
硫黄処理表面でのエピタキシャル成長

科学研究費補助金 1992年
化合物半導体の表面処理に関する研究

科学研究費補助金 1990年

産業財産権

特開2025-112982 計測装置、測定装置、及び観察システム

松山, 英治, 近藤, 剛弘, 大井川, 治宏
特開2025-112980 計測装置、観察システム、及び計測方法

松山, 英治, 近藤, 剛弘, 大井川, 治宏
特許第4534045号ヘテロダインビートプローブ走査顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法

松山英治, 重川秀実, 根本承次郎, 中村潤児, 大井川治宏, 武内修, 保田諭