2019年4月
Active Voltage Contrast Imaging for Measuring Electrical Potential Distribution using Helium Ion Microscopy
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- 担当区分
- 共著
- 担当範囲
- chapter6
- 出版者・発行元
- Advances in Engineering Research, Nova Science Publishers, Inc.
- 総ページ数
- 282
- 担当ページ
- p175-p190