論文

査読有り
2018年7月

In situ Voltage-Application System for Active Voltage Contrast Imaging in Helium Ion Microscope

Journal of Vacuum Science & Technology B
  • Chikako Sakai
  • ,
  • Nobuyuki Ishida
  • ,
  • Shoko Nagano
  • ,
  • Keiko Onishi
  • ,
  • Daisuke Fujita

36
開始ページ
042903-1
終了ページ
042903-5
記述言語
英語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)

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