藤井麻樹子 (Makiko Fujii) - マイポータル

基本情報

所属: 横浜国立大学大学院環境情報研究院准教授

学位: 博士（工学）(東京大学)

研究者番号: 70723443
J-GLOBAL ID: 201701005466995684
researchmap会員ID: B000277207

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論文

Effects of molecular weight and cationization agent on the sensitivity of Bi cluster secondary ion mass spectrometry

Makiko Fujii, Rie Shishido, Takaya Satoh, Shigeru Suzuki, Jiro Matsuo

RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY 30(14) 1722-1726 2016年7月査読有り
Solvent-free silver-nanoparticle surface-assisted laser desorption/ionization imaging mass spectrometry of the Irganox 1010 coated on polystyrene

Takaya Satoh, Hironobu Niimi, Naoki Kikuchi, Makiko Fujii, Toshio Seki, Jiro Matsuo

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY 404 1-7 2016年6月査読有り
Secondary ion emission from leucine and isoleucine under argon gas-cluster ion bombardment

Hubert Gnaser, Masakazu Kusakari, Makiko Fujii, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 34(3) 2016年5月査読有り
Development of ambient SIMS using mega-electron-volt-energy ion probe

Masakazu Kusakari, Makiko Fujii, Toshio Seki, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo

Journal of Vacuum Science and Technology B: Nanotechnology and Microelectronics 34(3) 4 2016年5月査読有り
Peptide Fragmentation and Surface Structural Analysis by Means of ToF-SIMS Using Large Cluster Ion Sources

Yuta Yokoyama, Satoka Aoyagi, Makiko Fujii, Jiro Matsuo, John S. Fletcher, Nicholas P. Lockyer, John C. Vickerman, Melissa K. Passarelli, Rasmus Havelund, Martin P. Seah

ANALYTICAL CHEMISTRY 88(7) 3592-3597 2016年4月査読有り
Observation of Liquid Water with Ambient SIMS

Kusakari M., Fujii M., Seki T., Aoki T., Matsuo J.

Transactions of the Materials Research Society of Japan 41(3) 309-311 2016年
レーザー脱離イオン化イメージング質量分析法による表面分析の可能性

佐藤貴弥, 藤井麻樹子, 松尾二郎

Journal of Surface Analysis 23(1) 2-10 2016年1月
Secondary ion emission from leucine and isoleucine under argon gas-cluster ion bombardment

Hubert Gnaser, Hubert Gnaser, Masakazu Kusakari, Makiko Fujii, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo

Journal of Vacuum Science and Technology B: Nanotechnology and Microelectronics 34(3) 5 2016年査読有り
クラスターイオンビーム技術の最近の進展—ナノ加工からバイオ材料評価まで—

松尾二郎, 藤井麻樹子, 瀬木利夫, 青木学聡

Journal of the Vacuum Society of Japan 59(5) 113-120 2016年1月
クラスタービーム技術の新展開

松尾二郎, 藤井麻樹子, 瀬木利夫, 青木学聡

精密工学会誌 82(4) 309-314 2016年1月
Yields and images of secondary ions from organic materials by different primary Bi ions in time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Shishido, R., Fujii, M., Seki, T., Aoki, T., Matsuo, J., Suzuki, S.

Rapid Communications in Mass Spectrometry 30(4) 476-482 2016年査読有り
Development of ambient SIMS using mega-electron-volt-energy ion probe

Masakazu Kusakari, Makiko Fujii, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 34(3) 2016年査読有り
Ambient analysis of liquid materials with Wet-SIMS

Seki, T., Kusakari, M., Fujii, M., Aoki, T., Matsuo, J.

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 371 189-193 2016年査読有り
Development of Low-vacuum SIMS instruments with large cluster Ion beam

Suzuki, K., Kusakari, M., Fujii, M., Seki, T., Aoki, T., Matsuo, J.

Surface and Interface Analysis 48(11) 1119-1121 2016年査読有り
Molecular cluster emission in sputtering of amino acids by argon gas-cluster ions

Masakazu Kusakari, Hubert Gnaser, Makiko Fujii, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY 383 31-37 2015年5月査読有り
Mass analysis by Ar-GCIB-dynamic SIMS for organic materials (Retracted article. See vol. 48, pg. 383, 2016)

Masato Suzuki, Masashi Nojima, Makiko Fujii, Toshio Seki, Jiro Matsuo

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 47(2) 295-297 2015年2月査読有り
Mass analysis by Ar-GCIB-dynamic SIMS for organic materials

Masato Suzuki, Masashi Nojima, Makiko Fujii, Toshio Seki, Jiro Matsuo

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 47(2) 298-300 2015年2月査読有り
BiクラスターTOF-SIMSによる有機材料のイメージング分析に関する研究

宍戸理恵, 藤井麻樹子, 瀬木利夫, 青木学聡, 松尾二郎, 鈴木茂

表面科学学術講演会要旨集 35 245 2015年1月
クラスターSIMS法を用いた生体試料分析の現状と課題

藤井麻樹子, 瀬木利夫, 青木学聡, 松尾二郎

表面科学学術講演会要旨集 35 346 2015年1月
クラスターSIMS法による生体分子の高空間分解能イメージング

松尾二郎, 鈴木敢士, 草刈将一, 藤井麻樹子, 青木学聡, 瀬木利夫

表面科学学術講演会要旨集 35 347 2015年1月

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MISC

'Mass analysis by Ar-GCIB-dynamic SIMS for organic materials' (Retraction of vol 47, pg 295, 2015)

Masato Suzuki, Masashi Nojima, Makiko Fujii, Toshio Sekid, Jiro Matsuoc

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 48(6) 383-383 2016年6月
Mass analysis by Ar-GCIB-dynamic SIMS for organic materials (vol 47, pg 298, 2015)

Masato Suzuki, Masashi Nojima, Makiko Fujii, Toshio Sekid, Jiro Matsuoc

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 48(6) 384-384 2016年6月
Development of ambient SIMS using MeV-energy ion probe

Kusakari M., Fujii M., Seki T., Aoki T., Matsuo J.

Annual report of Quantum Science and Engineering Center 18 21-25 2016年4月
Lipid Compounds Analysis with MeV-SIMS Apparatus

Fujii M., Kusakari M., Seki T., Aoki T., Matsuo J.

Annual report of Quantum Science and Engineering Center 16 22-24 2014年4月
クラスターSIMS法による脂質分子の高感度検出とイメージングへの応用

松尾二郎, 中川俊一郎, 鳥居聡太, 藤井麻樹子, 瀬木利夫, 青木学聡

表面科学学術講演会要旨集 33 2013年
Shave‐off深さ方向分析法におけるメモリー効果の低減

野島雅, 藤井麻樹子, 石崎泰裕, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 57(1) 67-69 2008年1月

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

界面分析のためのスパッタ二次粒子大気圧化学イオン化質量分析法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業特別研究員奨励費 2013年4月 - 2016年3月

藤井麻樹子
微小材料解析のためのshave－off 深さ方向分析法の高精度化に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業特別研究員奨励費 2011年 - 2012年

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