2020年3月1日
Analyzing oxygen and silicon incorporation in GaN microstructures composed of c-planes and angled facets by confocal magneto-photoluminescence microscopy
AIP Advances
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- 巻
- 10
- 号
- 3
- 開始ページ
- 035215
- 終了ページ
- 035215
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1063/1.5144549
- 出版者・発行元
- {AIP} Publishing
- リンク情報
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- DOI
- https://doi.org/10.1063/1.5144549
- 共同研究・競争的資金等の研究課題
- メゾスコピック量子ホール系の低次元準粒子制御と非平衡現象
- 共同研究・競争的資金等の研究課題
- 光検出時間分解磁気イメージングで探るナノ構造物理
- 共同研究・競争的資金等の研究課題
- ナノスケール磁気イメージング法の物性物理への応用
- ID情報
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- DOI : 10.1063/1.5144549
- ORCIDのPut Code : 93538395