廣瀬和之 (Kazuyuki Hirose) - マイポータル

基本情報

所属: 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所特任教授

学位: 工学博士(早稲田大学)
工学修士

J-GLOBAL ID: 200901096979972445
researchmap会員ID: 1000192906

研究キーワード

研究分野

学歴

- 1983年

早稲田大学大学院, 理工学研究科
- 1981年

早稲田大学, 理工学部

委員歴

受賞

2020年9月

フェロー, 薄膜・界面・素子物理の評価に基づく宇宙用集積回路装置の開発, 応用物理学会

廣瀬和之
2012年4月

文部科学大臣賞, 文部科学省

廣瀬和之
2010年10月

業績表彰(理事長賞)(研究分野), 放射線耐性強化半導体集積回路の開発, 宇宙航空研究開発機構
2008年3月

論文賞, はやぶさ搭載電池の開発, 電気化学会
2007年

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Outstanding Conference Paper Award
2006年

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Outstanding Conference Paper Award

論文

In Situ Evaluation of Perovskite Solar Cells after 8 MeV Proton Irradiation at Low Temperatures

Yu Miyazawa, Naoyuki Shibayama, Masashi Ikegami, Tsutomu Miyasaka, Ryoya Ishigami, Shusaku Kanaya, Hiroyuki Toyota, Kazuyuki Hirose

The Journal of Physical Chemistry C 2025年7月8日
Development of Thin Perovskite Solar Cells for Balloon Experiments

Shusaku KANAYA, Hideyuki FUKE, Yu MIYAZAWA, Hiroyuki TOYOTA, Kazuyuki HIROSE, Ryoto FUNAYAMA, Masashi IKEGAMI

Journal of Evolving Space Activities 1 2024年4月査読有り
Flight Tests of Perovskite Solar Cell for Applications to Balloon Envelope

Hideyuki FUKE, Shusaku KANAYA, Yu MIYAZAWA, Hiroyuki TOYOTA, Kazuyuki HIROSE, Ryoto FUNAYAMA, Masashi IKEGAMI

Journal of Evolving Space Activities 1 2023年12月査読有り
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross-Section Curves

Daisuke Kobayashi, Masashi Uematsu, Kazuyuki Hirose

IEEE Transactions on Nuclear Science 1-1 2023年
Design and Heavy-Ion Testing of MTJ/CMOS Hybrid LSIs for Space-Grade Soft-Error Reliability

K. Watanabe, T. Shimada, K. Hirose, H. Shindo, D. Kobayashi, T. Tanigawa, S. Ikeda, T. Shinada, H. Koike, T. Endoh …

2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2022年3月27日
Evaluation of Damage Coefficient for Minority-Carrier Diffusion Length of Triple-Cation Perovskite Solar Cells under 1 MeV Electron Irradiation for Space Applications

Yu Miyazawa, Gyu Min Kim, Ayumi Ishii, Masashi Ikegami, Tsutomu Miyasaka, Yudai Suzuki, Tomoyuki Yamamoto, Takeshi Ohshima, Shusaku Kanaya, Hiroyuki Toyota …

The Journal of Physical Chemistry C 125(24) 13131-13137 2021年6月24日
An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model

Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Keita Sakamoto, Yuta Tsuchiya, Shogo Okamoto, Shunsuke Baba, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima

IEEE Transactions on Nuclear Science 1-1 2021年
Investigation of buried-well potential perturbation effects on SEU in SOI DICE-based flip-flop under proton irradiation

K. Sakamoto, M. Kusano, T. Narita, S. Ishii, K. Hirose, S. Baba, D. Kobayashi, S. Okamoto, H. Shindou, O. Kawasaki …

IEEE Transactions on Nuclear Science 651 2021年査読有り
Spatial resolution of soft-error sensitive-depth analysis by scanning two-photon absorption laser microscopy

Hiroaki Itsuji, Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose

Japanese Journal of Applied Physics 59(10) 106501-106501 2020年10月1日
A methodology for reconstructing DSET pulses from heavy-Ion broad-beam measurements

T. Makino, S. Onoda, T. Ohshima, D. Kobayashi, H. Ikeda, K. Hirose

Quantum Beam Science, 4 15-1-15-9 2020年3月査読有り最終著者
Data-Retention-Voltage-Based Analysis of Systematic Variations in SRAM SEU Hardness: A Possible Solution to Synergistic Effects of TID

Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Keita Sakamoto, Shogo Okamoto, Shunsuke Baba, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima, Yoshiharu Mori …

IEEE Transactions on Nuclear Science 67(1) 328-335 2020年1月
Proton Irradiation Tolerance of High-Efficiency Perovskite Absorbers for Space Applications

Shusaku Kanaya, Gyu Min Kim, Masashi Ikegami, Tsutomu Miyasaka, Kohtaku Suzuki, Yu Miyazawa, Hiroyuki Toyota, Kanta Osonoe, Tomoyuki Yamamoto, Kazuyuki Hirose

The Journal of Physical Chemistry Letters 10(22) 6990-6995 2019年11月21日
Understanding the difference in soft-error sensitivity of back-biased thin-BOX SOI SRAMs to space and terrestrial radiation

C-H. Chung, D. Kobayashi, K. Hirose

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 19(4) 751-756 2019年11月査読有り最終著者
Process variation aware analysis of SRAM SEU cross-sections using data retention voltage

D. Kobayashi, N. Hayashi, K. Hirose, Y. Kakehashi, O. Kawasaki, T. Makino, T. Ohshima, D. Matsuura, Y. Mori, M. Kusano …

IEEE Transactions on Nuclear Science 66(1) 155-162 2019年11月査読有り
Advantages and disadvantages of SOI in terms of radiation tolerance

K. Hirose, D. Kobayashi

2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference, S3S 2018 2019年2月11日
Resistance-based modeling for soft errors in SOI SRAMs caused by radiation-induced potential perturbation under the BOX

C-H. Chung, D. Kobayashi, K. Hirose

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 18(4) 574-582 2018年12月査読有り最終著者
Characterization of stability of benchmark organic photovoltaic films after proton and electron bombardments

Jérémy Barbé, Harrison K.H. Lee, Hiroyuki Toyota, Kazuyuki Hirose, Shin Ichiro Sato, Takeshi Ohshima, Keith C. Heasman, Wing C. Tsoi

Applied Physics Letters 113(18) 2018年10月29日査読有り
The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM

Takashi Kato, Takashi Yamazaki, Kazunori Maruyama, Takeshi Soeda, Hiroaki Itsuji, Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Hideya Matsuyama

IEEE Transactions on Nuclear Science 65(8) 1900-1907 2018年8月
Tolerance of Perovskite Solar Cell to High-Energy Particle Irradiations in Space Environment

Yu Miyazawa, Masashi Ikegami, Hsin-Wei Chen, Takeshi Ohshima, Mitsuru Imaizumi, Kazuyuki Hirose, Tsutomu Miyasaka

ISCIENCE 2 148-+ 2018年4月
Hitomi (ASTRO-H) X-ray Astronomy Satellite

高橋忠幸他, h author

Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems 4(2) 021402-1-021402-13 2018年4月査読有り

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MISC

286

魔法のソフトエラー信頼性方程式を探して

小林大輔, 廣瀬和之

応用物理 92(2) 89-93 2023年2月
Memory reliability of spintronic materials and devices for disaster-resilient computing against radiation-induced bit flips on the ground

Kazuyuki Hirose, Daisuke Kobayashi, Taichi Ito, Tetsuo Endoh

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 56(8) 2017年8月
Zr Lα線源を用いたAESによるSiO₂/Si界面構造の評価

天野裕士, 天野裕士, 小林大輔, 野平博司, 廣瀬和之

応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 62nd 2015年
宇宙で活躍する半導体デバイス

廣瀬和之, 小林大輔

応用物理 83(8) 655-659 2014年8月
On-orbit Performance Analysis on Solar Array Paddle of X-ray Astronomy Satellite "Suzaku"

Takanobu Shimada, Hiroyuki Toyota, Kazuyuki Hirose, Yoshitomo Maeda, Kazuhisa Mitsuda

2014 IEEE 40TH PHOTOVOLTAIC SPECIALIST CONFERENCE (PVSC) 2161-2165 2014年
C-12-28 民生用FPGAにおける放射線起因エラーの評価(LSIアーキテクチャ,C-12.集積回路,一般セッション)

柴田優一, 小林大輔, 大槻真嗣, 牧野高紘, 大島武, 廣瀬和之

電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013(2) 88-88 2013年9月3日
C-12-39 0.2-μmFD-SOIプロセスで作られた位相同期回路の放射線耐性評価(メモリ及びデバイス・回路強調設計技術,C-12.集積回路,一般セッション)

星野英二郎, 柴田優一, 小林大輔, 梯友哉, 牧野高紘, 大島武, 廣瀬和之車

電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013(2) 99-99 2013年9月3日
Si酸化膜正孔トラップ密度のSi面方位依存性

梅田啓介, 梅田啓介, 岡田啓太郎, 岡田啓太郎, 小林大輔, 野平博司, 廣瀬和之

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 74th 2013年
Comparison of Oxide Hole/Electron Trap Densities of ~1 nm-SiO2 Films Formed on Si(100) and Si(111) Substrates

Keisuke Umeda, Yuji Amano, Daisuke Kobayashi, Hiroshi Nohira, Kazuyuki Hirose

CDROM 41-42 2013年
Development Status of Electrical Power Subsystem for X-ray Astronomy Satellite "ASTRO-H"

SHIMADA Takanobu, HIROSE Kazuyuki, KUKITA Akio, IKEDA Hirokazu, OHGUSHI Yoshio, OZAKI Masanobu, DOTANI Tadayasu, OKAZAKI Tsuyoshi, TAKAHASHI Tadayuki, NOZAKI Yukishige …

電子情報通信学会技術研究報告. SANE, 宇宙・航行エレクトロニクス 112(229) 17-22 2012年10月3日
XPS時間依存測定法によるSiO₂/Si界面の電荷トラップ密度の評価

梅田啓介, 梅田啓介, 岡田啓太郎, 岡田啓太郎, 小林大輔, 野平博司, 廣瀬和之

応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 73rd 2012年
光電子分光法によるSi系材料ナノ構造の評価

廣瀬和之, 服部健雄

應用物理 80(11) 942-947 2011年11月10日
宇宙・民生のデュアルユースLSIの将来展望

齋藤宏文, 廣瀬和之

日本航空宇宙学会誌 = Journal of the Japan Society for Aeronautical and Space Sciences 59(689) 175-183 2011年6月5日
宇宙・民生デュアルユースプロセッサの開発 : SOI-SoCの開発

黒田能克, 石井茂, 高橋大輔, 木村真一, 齋藤宏文, 廣瀬和之

日本航空宇宙学会誌 = Journal of the Japan Society for Aeronautical and Space Sciences 59(688) 149-154 2011年5月5日
In diffusion and electronic energy structure in polymer layers on In tin oxide

Polona Skraba, Gvido Bratina, Satoru Igarashi, Hirosi Nohira, Kazuyuki Hirose

THIN SOLID FILMS 519(13) 4216-4219 2011年4月
XPS時間依存測定法によるSiO₂/Si界面の電荷トラップ密度の面方位依存性の評価

石原由梨, 五十嵐智, 小林大輔, 野平博司, 上野和良, 廣瀬和之

応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM) 58th 2011年
XPS時間依存測定法によるSiO₂/Si界面の電荷トラップ密度の面方位依存性の評価

石原由梨, 渋谷寧浩, 五十嵐智, 小林大輔, 野平博司, 上野和良, 廣瀬和之

電子情報通信学会技術研究報告 111(114(SDM2011 50-70)) 2011年
水星磁気圏探査機MMOの太陽電池アレイの開発

嶋田貴信, 豊田裕之, 久木田明夫, 今泉充, 廣瀬和之, 小川博之, 前島弘則, 早川基, 田島道夫, 渡部浩一 …

宇宙科学技術連合講演会講演集(CD-ROM) 55th 2011年
光電子分光の基礎第3回 SiO₂/Si界面の電子状態の研究への適用例

廣瀬和之

結晶工学ニュース 85(46) 7-16 2011年
第一原理分子軌道計算を用いた Si (Al) 化合物の局所的な絶縁破壊電界の推定法

関洋, 澁谷寧浩, 野平博司, 小林大輔, 泰岡顕治, 廣瀬和之

応用物理学会薄膜・表面物理分科会並びに応用物理学会シリコンテクノロジー分科会 127-130 2011年

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書籍等出版物

宇宙ビジネス参入の留意点と求められる新技術，新材料

廣瀬和之, その他 (担当:共著, 範囲:人工衛星搭載用の電子部品の信頼性)

技術情報協会 2020年4月30日
電気特性の測定，評価とデータ解釈

廣瀬和之, 小林大輔, その他 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光による誘電率の推定法)

技術情報協会 2015年
ナノエレクトロニクスにおける絶縁超薄膜技術ー成膜技術と膜・界面の物性科学

廣瀬和之, 小林大輔, その他 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光と第一原理軌道計算によるMOS界面局所構造の物性研究ー誘電率と絶縁破壊電界ー)

（株）エヌ・ティー・エス 2012年7月20日
電気工学ハンドブック

廣瀬和之, その他 (担当:共著, 範囲:原子間，分子間の結合)

（社）電気学会 2012年
新訂版・表面科学の基礎と応用

（株）エヌ・ティー・エス 2004年 (ISBN: 4860430514)
応用物理ハンドブック

丸善（株） 2002年 (ISBN: 4621049550)
半導体大辞典

（株）工業調査会 1999年 (ISBN: 4769370822)
Molecular Dynamics Simulation of surface melting for Al reflow

Conference Proceedings ULSI XI(Materials research society) 1996年

講演・口頭発表等

Development of Thin Perovskite Solar Cells for Balloon Experiments

S. Kanaya, H. Fuke, Y. Miyazawa, H. Toyota, K. Hirose, R. Funayama, M. Ikegami

33rd International Symposium on Space Technology and Science 2022年
Flight Tests of Perovskite Solar Cell toward Applications to Balloon Envelope

Hi. Fuke, S. Kanaya, Y. Miyazawa, Hi. Toyota, K. Hirose, R. Funayama, M. Ikegami

33rd International Symposium on Space Technology and Science 2022年
Balloon flight test of thin-film-type perovskite solar cell

H. Fuke, S. Kanaya, Y. Miyazawa, H. Toyota, K. Hirose, R. Funayama, M. Ikegami

International Symposium on Solar Energy and Efficient Energy Usage (11th SOLARIS 2021) 2021年9月29日
Balloon flight demonstration of perovskite solar cell toward applications to inflatable structures

H. Fuke, S. Kanaya, M. Y, H. Toyota, K. Hirose, M. Ikegami

The 30th International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVCEC-30) 2020年11月11日
XPS study on film thickness dependence of surface charge-up and resistance of SiO2 films on Si

K. Ushimaru, T. Harie, D. Kobayashi, T. Yamamoto, K. Hirose

2019 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES -SCIENCE AND TECHNOLOGY- (IWDTF 2019) 2019年11月18日
Data retention voltage based analysis of systematic variations in SRAM SEU hardness: A possible solution to synergetic effects of TID

D. Kobayashi, K. Hirose, K. Sakamoto, S. Okamoto, S. Baba, H. Shindou, O. Kawasaki, T. Makino, T. Ohshima, Y. Mori, D. Matsuura, M. Kusano, T. Narita, S. Ishii

2019 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2019年7月12日
Investigation of buried-well potential perturbation effects on SEU in SOI DICE-based flip-flop under proton irradiation

K. Sakamoto, S. Baba, S. Okamoto, H. Shindou, O. Kawasaki, D. Kobayashi, K. Hirose, T. Makino, Y. Mori, D. Matsuura, M. Kusano, T. Narita, S. Ishii

2019 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2019年7月9日
Innovative avionics miniaturization by chip-level integration using vertical assemble technique

S. Fukuda, M. Mita, K. Hirose, M. Kato, S. Iriyama

32nd International Synposium on Space Technology and Science (ISTS 2019) 2019年6月21日
Theoretical estimation of breakdown electric field of B-Al-Ga nitride polymorphs

H. Zhang, D. Kobayashi, T. Yamamoto, K. Hirose

The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6) 2019年6月
Physics and Space Applications of Advanced Silicon Devices

K. Hirose, D. Kobayashi

BIT’s 5th Annual World Congress of Smart Materials-2019 ( WCSM-2019) 2019年3月8日招待有り
X-ray photoelectron spectroscopy study on SiO2/Si interfaces of advanced MOSFETs

K. Hirose, D. Kobayashi

International Conference on Electronics, Communications and Networks (CECNet 2018) 2018年11月17日招待有り
Advantages and disadvantages of SOI in terms of radiation tolerance

K. Hirose, D. Kobayashi

IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S Conference 2018) 2018年10月16日招待有り
X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study on Reliability of Advanced MOSFETs

The 7th International Conference on Electronics, Communications and Networks (CECNET 2017) 2017年11月25日招待有り
Photoemission and molecular orbital calculation study on atomic structures and physical properties at (SiO2-Si)-interfaces

K. Hirose, D. Kobayashi

18th Research Workshop on Nucleation Theory and Applications 2014年4月招待有り
Estimation of breakdown electric-field strength of SiO2 with oxygen vacancies or strains using first-principles molecular orbital calculation

K. Hirose, H. Seki, S. Wakao, Y. Shibuya, D. Kobayashi, H. Nohira, K. Yasuoka, T. Yamamoto

The 14th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-14) 2013年6月
XPS time-dependent measurement on the trap density at ultrathin SiO2/Si interfaces: comparison to (100), (110), and (111) Si orientations

K. Hirose, S. Igarashi, Y. Ishihara, Y. Shibuya, D. Kobayashi, K. Ueno, H. Nohira

13th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (13th ICFSI) 2011年7月
Estimation technique for optical dielectric constant of polymorphous SiO2 through first-principles molecular orbital calculation

K. Hirose, D. Kobayashi, S. Igarashi, H. Nohira

12th International Conference on Modern Materials and Technologies (CIMTEC) 2010年6月
First-principles calculation of the s later transition state for estimating optical dielectric constants of Si and Al dielectric compounds

K. Hirose, H. Suzuki, D. Kobayashi, H. Nohira

7th Symposium SiO2 Advanced Dielectrics and Related Devices (SiO2 2008) 2008年6月
Relationship between optical dielectric constant and XPS relative chemical shift of 1s and 2p levels for dielectric compounds

K. Hirose, H. Suzuki, H. Nohira, E. Ikenaga, D. Kobayashi, T. Hattori

13th International Conference on Surface Science (ICSS) 2007年7月
X-ray photoelectron spectroscopy study on dielectric properties at gate insulator film/Si interfaces

K. Hirose, H. Nohira, D. Kobayashi, T. Hattori

8th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) 2006年10月招待有り

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所属学協会

日本応用物理学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

X線を用いた分析の帯電補償に関わる厚膜Si酸化膜中の励起電子の輸送機構の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2017年4月 - 2020年3月

廣瀬和之
光電子分光法を用いた極薄SiO2/Si界面の欠陥とアモルファス構造の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月

廣瀬和之, 野平博司, 小林大輔
耐災害性に優れた安心・安全社会のためのスピントロニクス材料・デバイス基盤技術の研究開発

文部科学省「未来社会実現のための ICT 基盤技術の研究開発」「イノベーション創出を支える情報基盤強化のための新技術開発」委託研究競争的資金 2012年 - 2016年

大野英男, 池田正二, 羽生貴弘, 遠藤哲郎, 松倉文礼, 安藤康夫, 小野輝男, 林将光, 小林大輔, 杉林直彦, 崎村昇, 佐藤茂行, 廣瀬和之
放射線による過渡的な局所昇温現象とそのソフトエラー耐性への影響

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2012年4月 - 2015年3月

小林大輔, 廣瀬和之
硬X線光電子分光法と第一原理計算を用いた極薄酸化膜の光学的誘電率の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2009年 - 2011年

廣瀬和之, 野平博司, 小林大輔
次世代遠中間赤外線検出器の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(A) 2008年 - 2010年

和田武彦, 金田英宏, 廣瀬和之, 渡辺健太郎
積層ゲート絶縁膜の局所的誘電率の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2006年 - 2008年

廣瀬和之, 野平博司, 服部健雄, 小林大輔
組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2006年 - 2007年

小林大輔, 廣瀬和之, 齋藤宏文
高誘電率絶緑薄膜の応力に起因する高圧相への構造相転移の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2004年 - 2006年

秋本晃一, 廣瀬和之
精密X線ドップラー分光で探るブラックホールのダイナミクス

日本学術振興会科学研究費助成事業特定領域研究 2002年 - 2006年

大橋隆哉, 石田学, 石崎欣尚, 満田和久, 廣瀬和之, 山崎典子, 藤本龍一
高誘電率絶縁薄膜中の欠陥の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2003年 - 2005年

廣瀬和之, 服部健雄
マイクロカロリメータによる宇宙X線分光観測の新展開

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(A) 2002年 - 2004年

満田和久, 藤本龍一, 廣瀬和之
極薄シリコン酸化膜/シリコン界面のキャリア捕獲準位と微視的構造との関係の解明

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 1998年 - 2000年

服部健雄, 廣瀬和之, 野平博司
マイクロマシーニング技術を応用したX線・赤外線検出器の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 1997年 - 2000年

満田和久, 廣瀬和之, 藤本龍一, 庄子習一, 清水裕彦, 村上浩, 田島道夫
衛星塔載用の耐放射性・耐熱性半導体デバイス開発のための,半導体界面制御
Control of semiconductor interfaces in radiation-hardened devices for high-temperature operation in space

廣瀬和之

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