論文

2022年3月27日

Design and Heavy-Ion Testing of MTJ/CMOS Hybrid LSIs for Space-Grade Soft-Error Reliability

2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

K. Watanabe
T. Shimada
K. Hirose
H. Shindo
D. Kobayashi
T. Tanigawa
S. Ikeda
T. Shinada
H. Koike
T. Endoh
T. Makino
T. Ohshima

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記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/irps48227.2022.9764491
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/irps48227.2022.9764491
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9764406/9764408/09764491.pdf?arnumber=9764491

ID情報

DOI : 10.1109/irps48227.2022.9764491

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