2013年9月5日 炭素電極/電解質界面に固定化した白金微粒子薄膜の背面入射配置におけるIn Situ XAFS 測定法 第１６回ＸＡＦＳ討論会 上原広充, 上村 洋平, 上野 諒一, 鴻野 健太郎, 小川 貴史, 丹羽 尉博, 仁谷 浩明, 阿部 仁, 高草木 達, 朝倉 清高 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表（一般）
