2007年5月
Investigation of relation between Ga concentration and defect levels of Al/Cu (In,Ga)Se-2 Schottky junctions using admittance spectroscopy
THIN SOLID FILMS
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- 巻
- 515
- 号
- 15
- 開始ページ
- 6208
- 終了ページ
- 6211
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1016/j.tsf.2006.12.070
- 出版者・発行元
- ELSEVIER SCIENCE SA
- ID情報
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- DOI : 10.1016/j.tsf.2006.12.070
- ISSN : 0040-6090