2013年
Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin
Ukrainian Journal of Physics
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- 巻
- 58
- 号
- 8
- 開始ページ
- 769
- 終了ページ
- 772
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.15407/ujpe58.08.0769
- 出版者・発行元
- Co. Ltd. Ukrinformnauka
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.15407/ujpe58.08.0769
- ISSN : 2071-0186
- ORCIDのPut Code : 71391892
- SCOPUS ID : 84882782283