2014年
Radiation damage of carrier lifetime and conductivity in Sn and Pb doped n-Si
Solid State Phenomena
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- 巻
- 205-206
- 号
- 開始ページ
- 323
- 終了ページ
- 328
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.4028/www.scientific.net/SSP.205-206.323
- 出版者・発行元
- Solid State Phenomena
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.4028/www.scientific.net/SSP.205-206.323
- ISSN : 1662-9779
- ORCIDのPut Code : 51027342
- SCOPUS ID : 84886781751