2021年4月28日
Role of the intensity of high-temperature electron irradiation in accumulation of vacancy-oxygen defects in Cz n-Si
Journal of Materials Research
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- 巻
- 36
- 号
- 8
- 開始ページ
- 1646
- 終了ページ
- 1656
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1557/s43578-021-00152-2
- 出版者・発行元
- Springer Science and Business Media {LLC}
- ID情報
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- DOI : 10.1557/s43578-021-00152-2
- ISSN : 0884-2914
- ISSN : 2044-5326
- ORCIDのPut Code : 96303517