2011年8月
Accumulation of VO Defects in N-Si at High-Temperature Pulse Electron Irradiation: Generation and Annealing Kinetics, Dependence on Irradiation Intensity
Solid State Phenomena
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- 巻
- 178-179
- 号
- 開始ページ
- 404
- 終了ページ
- 409
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.4028/www.scientific.net/ssp.178-179.404
- 出版者・発行元
- Trans Tech Publications
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.4028/www.scientific.net/ssp.178-179.404
- ISSN : 1662-9779
- ORCIDのPut Code : 51026810
- SCOPUS ID : 80053284351