論文

2011年

Mechanism of annealing of VO defects in n-Si under pulse electron irradiation at high-temperatures

Ukrainian Journal of Physics
  • Kraitchinskii, A.M.
    • ,
  • Kras{'}ko, M.M.
    • ,
  • Kolosiuk, A.G.
    • ,
  • Petrunya, R.V.
    • ,
  • Povarchuk, V.Y.
    • ,
  • Voytovych, V.V.
    • ,
  • Neimash, V.B.
    • ,
  • Makara, V.A.
    • ,
  • Rudenko, R.M.
巻
56
号
9
記述言語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
リンク情報
URL
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-80053336560&partnerID=MN8TOARS
ID情報
  • ORCIDのPut Code : 51027339
  • SCOPUS ID : 80053336560
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