講演・口頭発表等

2016年10月2日

Characterization of Interface States from Frequency Dispersion in Capacitance-Voltage Curves of Al2O3/AlGaN/GaN Heterostructures

International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2016) 2 Aug 2016 Orlando, Florida
  • M. Matys
    • ,
  • S.Kaneki
    • ,
  • B.Adamowicz
    • ,
  • J.Kuzmik
    • ,
  • T.Hashizume
記述言語
英語
会議種別
Poster
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