模擬高レベル放射性廃液および800$^{\circ}$Cまでの加熱処理により得られた粉末試料に対して、X線吸収微細構造(XAFS)分析測定を実施した。この分析の目的は、廃液成分がホウケイ酸ガラスと混合する際に、その各成分元素がどのような化学状態にあるかを知ることである。本研究では、原子力機構のガラス固化施設(TVF)で保管されている高レベル廃液成分と同等の模擬廃液を使用して、Cr, Mn, Fe, Zr, Mo, Ru, Rh, PdおよびCeを評価した。XAFSデータの解析の結果、Ce元素は、廃液中では3価であるが、高温で加熱される段階で4価(化学形はCeO$_2$)になっていることが分かった。ガラス中で観察されるモリブデン酸イオン(MoO$_4$)$^{2-}$が、廃液を500$^{\circ}$Cで熱処理した段階で見出された。本研究では、加熱温度(100$^{\circ}$C-800$^{\circ}$C)に加えて、加熱時の雰囲気の違い(アルゴン雰囲気と大気中)についても評価した。