論文

査読有り筆頭著者

2020年10月

Experimental Study on Short-Channel Effects in Double-Gate Silicon Carbide JFETs

巻: 67
号: 10
開始ページ: 4538
終了ページ: 4540
記述言語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1109/ted.2020.3017143

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2020.3017143
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/16/9204488/09180310.pdf?arnumber=9180310

ID情報

DOI : 10.1109/ted.2020.3017143
ISSN : 0018-9383
eISSN : 1557-9646

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