2012年6月
イメージングXAFS法による模擬ガラス試料中のルテニウムの状態分析
日本原子力学会和文論文誌
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- 巻
- 11
- 号
- 2
- 開始ページ
- 127
- 終了ページ
- 132
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- DOI
- 10.3327/taesj.J11.031
- 出版者・発行元
- Atomic Energy Society of Japan
模擬ガラス中のルテニウム元素の分布とその化学状態を、放射光イメージング測定技術を使い分析した。この方法では、ダイレクトX線CCDカメラを、イオンチェンバーの代わりに使用している。X線CCDカメラによる画像の濃淡を数値化解析することにより、位置分解能を備えたX線吸収スペクトルが取得可能である。本研究では最初に、ルテニウム金属と酸化物が混在したテスト試料の測定を実施した。その結果、ルテニウム元素の分布情報を取得できたうえに、さらにルテニウムリッチの微小領域における化学状態、すなわちそれが金属か酸化物かの評価が可能であることを示すことができた。この手法を模擬ガラス試料へ適用し、ガラス中のルテニウム元素が酸化物の状態でいることを明らかにした。
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.3327/taesj.J11.031
- ISSN : 1347-2879
- CiNii Articles ID : 10030318892
- CiNii Books ID : AA11643165